国家自然科学基金(61176039)

作品数:5被引量:6H指数:2
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相关作者:冯建华张兴叶红飞张伟龚浩然更多>>
相关机构:北京大学北京大学(天津滨海)新一代信息技术研究院更多>>
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IP保护方法研究进展被引量:2
《微纳电子与智能制造》2020年第1期95-101,共7页张伟 冯建华 
国家自然科学基金(61672054,61176039)项目资助。
电子器件生产成本的增加和集成电路设计方法的改变已导致微电子工业中的新兴威胁,例如伪造、非法复制、反向工程和盗窃,IP保护已经成为一个重要的研究课题。系统概述了各种主流的IP保护方法,包括加密与许可证机制、数字指纹、数字水印...
关键词:IP核 硬件安全 数字水印 硬件计量 
基于脉宽收缩和累积寄存器的片上时钟抖动测试电路被引量:1
《中国科学:信息科学》2014年第10期1216-1225,共10页冯为蕾 冯建华 叶红飞 张兴 
国家自然科学基金(批准号:61176039)资助项目
本文提出一种基于脉宽收缩和累积寄存器的片上时钟抖动测试电路,用于监测片上时钟信号的抖动,测量精度可达到亚门级.该测试电路是由脉宽收缩环路、累积寄存器、异或阵列、计数器和控制电路组成的.以环形方式连接脉宽收缩单元,可减小由...
关键词:脉宽收缩 时钟抖动 片上测量 抖动测试 累积寄存器 
一种3D IC TSV互连的内建自测试和自修复方法(英文)被引量:2
《北京大学学报(自然科学版)》2014年第4期690-696,共7页王秋实 谭晓慧 龚浩然 冯建华 
国家自然科学基金(61176039)资助
提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置TSV映射逻辑,有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格,并减少TSV缺陷...
关键词:三维集成电路 硅通孔 内建自测试 内建自修复 冗余 
一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法被引量:1
《北京大学学报(自然科学版)》2014年第4期709-714,共6页崔伟 冯建华 叶红飞 闫鹏 
国家自然科学基金(61176039)资助
提出一种基于环路(Loopback)测试的内建自测试(BIST)方法。为了基于环路结构的内建自测试,设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试(BIST)电路RF收发器的测试结果表明,此方法能够正确检测出系统故障,可以应用于生产测试,并能减少测...
关键词:内建自测试 LOOPBACK 可测性设计 衰减器 射频集成电路 误差向量幅值(EVM) 
基于有限状态机的硬件木马设计和插入(英文)被引量:1
《北京大学学报(自然科学版)》2013年第6期1105-1110,共6页李蕾 尚子靖 冯建华 张兴 安辉耀 
国家自然科学基金(61176039)资助
针对集成电路设计和制造中存在的硬件木马问题,提出一种新的模型来提高木马检测能力。该模型基于有限状态机,比组合电路型木马难于触发和检测。同时,木马电路插入位置的选择也可以有效规避路径延时检测方法。实验选择ISCAS’89基准电路...
关键词:硬件木马 木马插入 硬件安全 路径延时检测 
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