带电粒子光学

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几何带电粒子光学
《国外科技新书评介》2009年第10期12-12,共1页H．H．罗斯 刘克玲 
本书是德国Springer丛书《光学科学》的第142卷。丛书的主编是美国佐治亚技术学院（Georgia Institute of Technology）的W．T．Rhodes教授。本书是著者罗斯教授在德国达姆施塔特技术大学（Technische Universitot Darmstadt）多年教学...
关键词：带电粒子光学 BERKELEY 几何 像差校正 国家实验室 光学科学 曲轴系统 劳伦斯 
电子学系介绍
《北京大学学报（自然科学版）》2004年第3期350-350,共1页
关键词：电子学系 光纤通信 量子电子学 纳米电子学 激光物理 带电粒子光学 
复合静电-磁浸没透镜的宽束曲轴聚焦性质及像差理论被引量：1
《真空科学与技术》2002年第1期5-9,共5页程敏 唐天同 姚振华 
国家自然科学基金资助项目 (No .699710 19)
研究了新型的复合静电 磁浸没透镜的曲光轴高斯电子光学性质及像差特性。应用宽束曲轴理论 ,导出了三维局部正交坐标系中的电子运动的中心轨迹方程和曲光轴的近轴轨迹方程 ;利用数学软件Mathematica推导出了复合静电 磁浸没透镜全部曲...
关键词：静电-磁浸没透镜 曲光轴 像差 轨迹 聚焦性质 微电子技术 带电粒子光学 
微分代数在高阶复合几何像差-色像差分析中的应用被引量：1
《真空科学与技术》2001年第5期356-359,共4页程敏 唐天同 姚振华 
国家自然科学基金资助项目 (No .699710 19)
微分代数是计算机数值计算领域中的一种强有力的新型数学方法 ,它为任意高阶微分的计算提供了一种可达到机器精度的极为简便的手段。本文根据微分代数的基本原理 ,研究了它在高阶复合几何像差 色像差分析计算中的应用 ,得到了系统的任...
关键词：微分代数 几何像差-色像差 静电电子透镜 带电粒子光学 半导体器件 
光电子技术与激光基础
《电子科技文摘》2001年第10期21-22,共2页
SPIE-Vol.3777 01165331999年SPIE会议录,Vol.3777:带电粒子光学,4=1999 proceedings of SPIE,Vol.3777:charged particleoptics Ⅳ[会,英]/SPIE-The International Society forOptical Engineering.—1999.—276P.(EC)本会议录收集了于...
关键词：带电粒子光学 分析与优化 光折变晶体 全息干涉计量术 光折变效应 会议录 电子束光刻 空间电荷 离子光学 滤波器 
自动微分技术及其在电子光学系统像差分析中的应用
《西安交通大学学报》1999年第12期101-105,共5页王莉萍 唐天同 程彬杰 蔡杰 
研究了自动微分技术的基本原理，及其在旋转对称电子光学系统像差分析中的应用．利用面向对象的编程技术，在ＶＣ＋＋ 环境中编制了一个软件包，该软件包能够简洁且准确地计算旋转对称系统的３ 阶像差．用此软件计算了钟形场磁透镜中高...
关键词：自动微分 带电粒子光学 电子光学系统 像差分析 
用于电子光学系统像差分析的自动微分技术及其在Visual C++平台上的软件实现被引量：2
《电子显微学报》1999年第6期644-651,共8页王莉萍 程彬杰 唐天同 蔡杰 
本文研究计算机数值计算与分析领域内的一个完全崭新的技术——自动微分技术。自动微分技术为带电粒子光学中的任意高阶像差分析与校正提供了一个很有效的工具。我们研究了自动微分功能利用面向对象的编程技术的实现，并在ＶＣ＋ ＋ 环...
关键词：自动微分 带电粒子光学 电子光学系统 像差 
带电粒子束偏转系统像差分析的自动微分方法
《核科学与工程》1999年第4期367-373,共7页王莉萍 唐天同 程彬杰 蔡 杰 
根据AD技术的基本原理，研究了对带电粒子光学系统进行像差分析的AD方法，给出了偏转系统高斯光学性质及三阶几何像差系数的AD表述。利用面向对象的编程技术，在Visual C++中编制了一个软件包，实现了基本AD功能及带电粒子光学计算功能...
关键词：自动微分 带电粒子光学 面向对象编程 带电粒子束 偏转系统 像差分析 
一种自动微分技术:微分代数及其在带电粒子光学中的应用被引量：1
《计算物理》1999年第3期225-234,共10页王莉萍 唐天同 
微分代数是带电粒子光学中新近出现的一个很有前途的数学工具。作为一种自动微分技术，它结合了非标准分析、简正级数理论等的思想。微分代数提供了一种可达到机器精度的研究非线性系统任意阶性质的极为简便的方法，故应用领域非常广泛...
关键词：微分代数 自动微分 粒子光学 非标准分析 
精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响被引量：3
《电子学报》1999年第3期140-141,139,共3页雷威 
本文提出一种新的方法分析带电粒子光学系统中电极扰动对粒子轨迹的影响首先计算电位对扰动变量的导数，然后计算粒子轨迹等参量对扰动变量的导数，最后得到电极扰动对系统性能的影响与以前的一些计算方法相比较。
关键词：电极扰动 带电粒子光学 粒子轨迹 电磁聚焦系统 
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