微小尺寸测量

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相关领域：机械工程自动化与计算机技术更多>>
相关作者：于水李庆祥杨博雄孙长库刘斌更多>>
相关机构：天津大学清华大学哈尔滨工业大学中国地震局地震研究所更多>>
相关期刊：《大地测量与地球动力学》《计测技术》《中国学术期刊文摘》《清华大学学报（自然科学版）》更多>>
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微小尺寸测量方法研究
《中文科技期刊数据库（引文版）工程技术》2021年第6期241-243,共3页程辉 高潮 张宸 
基于机器视觉测量的相关技术,针对某些特殊应用领域中的微小颗粒,研制并搭建了自动化无接触式的微小物件精密尺寸测量平台。为解决传统Canny算子提取多层完整目标边缘缺损的问题,采用双边滤波滤除噪声干扰,提出基于多判据边缘提取和测...
关键词：微小工件 边缘检测 机器视觉 
基于局部信噪比的微小损伤自适应检测技术研究被引量：8
《中国激光》2018年第7期124-131,共8页唐如欲 刘德安 朱健强 
国家自然科学基金(11774364)
大型高功率激光驱动装置中,激光能量密度及系统运行速度主要受终端光学元件损伤增长的限制。为高效、精确地检测元件的损伤状态,提出了一种基于局部信噪比的自适应差异窗过滤算法。该算法通过设计一种作用在像素点上的窗函数,以关联邻...
关键词：测量 损伤检测 图像分割 微小尺寸测量 自动检测 区域生长 
基于CCD的实时成像与微小尺寸测量系统的设计被引量：2
《东北师大学报（自然科学版）》2017年第4期49-53,共5页崔荣丽 王连明 
国家自然科学基金资助项目(21227008);吉林省科技发展计划项目(20130102028JC)
设计了一种基于CCD的实时成像与微小尺寸测量系统,该系统由CCD摄像头、视频解码芯片、FPGA、USB芯片和上位机组成.用FPGA控制视频解码芯片获取CCD摄像头采集的光学信号,通过USB传给上位机,利用多线程技术实现控制命令的发送、图像数据...
关键词：CCD FPGA TVP5150 USB 实时成像 微小尺寸测量 
坐标测量机在微小尺寸测量方面的应用被引量：1
《计测技术》2016年第S1期80-81,90,共3页万夙鸣 董良海 
坐标测量机在先进制造和精密测量方面有着广泛的应用。面对日益复杂的机械零件,仅使用坐标测量机的程序命令,往往不能得到正确的测量结果。本文阐述了坐标测量机在喷油嘴微小尺寸方面的测量方法及数据处理。
关键词：坐标测量机 微小尺寸测量 喷油嘴 
扫描电子显微镜测长标准物质:线宽标物与粒度标物
《中国计量》2009年第5期79-81,共3页常怀秋 贺蒙 朴玲钰 
扫描电子显微镜（以下简称“扫描电镜”）是一种被广泛应用于材料微区形貌分析和微小尺寸测量的仪器设备。我国早在1988年就发布了JJG550—1988（（扫描电子显微镜（试行）》检定规程，1996年教委又专门发布了JJG（教委）010—1996（（...
关键词：扫描电子显微镜 标准物质 测长 粒度 线宽 微小尺寸测量 检定规程 扫描电镜 
图像处理在微小尺寸测量中的应用研究被引量：2
《硅谷》2008年第24期11-12,共2页谭礼晋 耿春明 
介绍图像测量系统的基本原理和结构,以及在微小尺寸测量中常用的图像处理方法和步骤。采用在灰度图像下利用罗森菲尔德算法直接提取边缘,避免设定阈值所带来的误差影响,并利用准则剔除粗大误差。最后通过实例来验证了该方法是可行的。
关键词：图像处理 微小尺寸测量 中值滤波 罗森菲尔德算法 
测绘科学技术：大地测量技术
《中国学术期刊文摘》2007年第16期42-42,共1页
基于线框架模型的三维地质断层结构模型及其构建技术;线阵CCD微小尺寸测量的应用及误差分析;
关键词：大地测量技术 测绘科学技术 微小尺寸测量 线阵CCD 构建技术 结构模型 地质断层 框架模型 
线阵CCD微小尺寸测量的应用及误差分析被引量：5
《大地测量与地球动力学》2007年第2期119-121,共3页杨博雄 刘海波 路杰 陈志高 傅辉清 
湖北省自然科学基金(2005ABA279)
利用线阵CCD可以进行一维无接触微小尺寸的测量,具体方法是建立经过衍射后的被测件尺寸与CCD视频输出的函数关系来达到对微小尺寸的高精度测量;并对该测量方法的误差进行了分析。
关键词：线阵CCD 微小尺寸 无接触测量 衍射 误差分析 
计算机视觉技术在微小尺寸测量中的应用被引量：6
《农业机械学报》2006年第9期174-176,共3页陈廉清 袁红彬 王龙山 
宁波市工业科研攻关项目(项目编号:2005B100014)
应用计算机视觉技术快速测量微小零件的尺寸,研究了CCD图像预处理、图像二值化、边缘处理、标定等技术,发现中值滤波平滑处理图像的精度更高,轮廓跟踪能使图像边缘确定时的运算更简单。图像检测结果与工具显微镜测量进行了比较,结果表...
关键词：计算机视觉 尺寸测量 轮廓跟踪 中值滤波 
用于纳米级三维表面形貌及微小尺寸测量的原子力显微镜被引量：7
《制造技术与机床》2004年第8期34-39,共6页高思田 叶孝佑 邵宏伟 杜华 金其海 杨自本 陈允昌 
SPM是在纳米尺度上进行测量的重要的测量仪器之一 ,随着SPM进入工业测量领域 ,SPM的校准、量值溯源和测量不确定度分析已经成为SPM能够作为计量仪器使用的关键所在。文章论述了一种计量型原子力显微镜的构成、校准以及在国际比对中的应用。
关键词：纳米技术 AFM 校准 表面形貌 微小尺寸测量 原子力显微镜 
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