可测试性设计

作品数:183被引量:407H指数:9
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边界扫描测试优化算法被引量:5
《计算机工程》2009年第20期255-257,共3页徐丹 杨新环 晏新晃 
分析全0(1)+01(10)并行序列算法、极大权值极小相异性算法、自适应完备诊断算法和遗传算法4种边界扫描测试生成算法,对比其各自的优缺点。通过DEMO板互连测试,对比测试时间和紧凑性指标,结果表明遗传算法是相对最优的算法,能生成具有抗...
关键词:可测试性设计 边界扫描 测试算法 
嵌入式计算机的BIT设计与实现被引量:4
《计算机工程》2008年第B09期115-116,119,共3页刘少雄 喻卫东 
依据嵌入式计算机组成特点,在可测试性设计中采用层次式测试硬件结构,通过分布式测试控制管理,实现从器件级、模块级到子系统级、系统级的逐级测试。在BIT测试中,以CPU测试为例解析了测试用例数据、用例过程、执行控制和判决的组织与实现。
关键词:可测试性设计 机内测试 测试用例 
类蜂巢结构快速样机平台的可测试性设计
《计算机工程》2006年第24期232-233,256,共3页陈伟男 周博 彭澄廉 吴荣泉 
类蜂巢结构快速样机平台(HLRESP)是一个基于现场可编程门阵列(FPGA)的通用样机平台,采用类似蜂窝状的系统结构。根据该样机平台特点,采用边界扫描技术进行板级和系统级的可测试性设计,扫描链路可以灵活配置,不仅能实现边界扫描测试,还...
关键词:快速样机原型 可测试性设计 JTAG 
一种微处理器芯片的验证测试分析及应用被引量:1
《计算机工程》2006年第9期219-221,共3页檀彦卓 韩银和 李晓维 
国家自然科学基金资助项目(90207002;60242001);北京市科技重点基金资助项目(H020120120130)
验证测试技术是验证芯片设计正确与否的重要环节,不仅向设计者及时反馈了有效的信息以尽早发现错误、改进设计,并能为降低测试成本和生产测试提供有效保障。基于实际工程,该文提出了一个较有效的验证分析流程方案,采用多测试项目融合的...
关键词:验证测试 生产测试 失效分析 可测试性设计 故障模型 
数字信号处理器芯片核NDSP25的可测试性设计
《计算机工程》2004年第15期169-171,共3页薛静 白永强 
介绍了可测试性设计的一般方法,着重讨论了NDSP25数字信号处理器芯片核的可测试性设计策略,以及可测试性设计的实现,并对可测试性设计的结果进行了统计和分析。
关键词:NDSP25芯片核 可测试性设计 内建自测试 
基于边界扫描技术的TAP接口研究被引量:4
《计算机工程》2003年第3期139-141,共3页王让定 叶富乐 杜呈透 
边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法。该文在研究边界 扫描体系结构和TAP接口控制器的基础上,在一个测试系统中,实现了基于JTAG规范的主TA P 接口设计。
关键词:可测试性设计 边界扫描 JTAG规范 TAP接口 LVSI 超大规模集成电路 
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