P阱

作品数:13被引量:7H指数:2
导出分析报告
相关领域:电子电信更多>>
相关作者:徐跃陈亮秦玉香杨冰杨银堂更多>>
相关机构:上海华虹宏力半导体制造有限公司南京邮电大学上海华力微电子有限公司天津大学更多>>
相关期刊:《电子质量》《测试技术学报》《中国设备工程》《电子产品世界》更多>>
相关基金:国家高技术研究发展计划更多>>
-

检索结果分析

结果分析中...
选择条件:
  • 期刊=集成电路应用x
条 记 录,以下是1-1
视图:
排序:
高压P阱LDMOS的结构分析及其参数分析
《集成电路应用》2003年第12期43-46,共4页黄海涛 王伟国 
衡量HVIC工艺的一个重要的标准是其内的主要单元LDMOS的参数是否合乎工艺设计的要求。本文简略分析了700V P阱HVIC工艺中的LDMOS结构,并对LDMOS的参数略加分析。
关键词:HVIC LDMOS 场限环 RESURF 高压集成电路 多晶保护环 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部