云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- ATPG

ATPG: 作品数：43被引量：61H指数：4; 导出分析报告; 相关领域：电子电信更多>>; 相关作者：李晓维杨士元闵应骅李华伟王红更多>>; 相关机构：中国科学院清华大学西安电子科技大学北京大学更多>>; 相关期刊：《北京航空航天大学学报》《计算机与数字工程》《微电子学与计算机》《计算机辅助设计与图形学学报》更多>>; 相关基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划中央高校基本科研业务费专项资金浙江省自然科学基金更多>>

图计算在ATPG中的应用探究: 《中国科学：信息科学》2023年第2期211-233,共23页毛伏兵彭达张宇廖小飞姜新宇杨赟金海赵进刘海坤王柳峥; 国家自然科学基金(批准号:61832006,61825202,62072193);中央高校基本科研业务费资助(HUST)(批准号:2020kfyXJJS018,2020kfyXJJS109)项目。; ATPG(automatic test pattern generation)是VLSI(very large scale integration circuits)电路测试中非常重要的技术,它的好坏直接影响测试成本与开销.然而现有的并行ATPG方法普遍存在负载不均衡、并行策略单一、存储开销大和数据局部...; 关键词：图计算超大规模集成电路自动测试向量生成电子设计自动化电路测试

多电压域下自动测试向量产生(ATPG)的电源感知研究: 《集成电路应用》2023年第1期38-39,共2页秦冰冰戴显英段雨轩闫宝鑫; 结合芯片设计的电源状态信息使得ATPG带有电源感知能力,阐述电源感知ATPG能够提供追溯有效的电源模式的设计规则检查,确保扫描操作在电源配置中的效果。; 关键词：电源感知扫描转储多电压域 ATPG

Efficient Static Compaction of Test Patterns Using Partial Maximum Satisfiability: 《Tsinghua Science and Technology》2021年第1期1-8,共8页Huisi Zhou Dantong Ouyang Liming Zhang; supported by the National Natural Science Foundation of China(Nos.61672261 and 61872159)。; Static compaction methods aim at finding unnecessary test patterns to reduce the size of the test set as a post-process of test generation.Techniques based on partial maximum satisfiability are often used to track man...; 关键词：test compaction partial maximum satisfiability Automatic Test Pattern Generation(ATPG)

基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法: 《北京航空航天大学学报》2020年第8期1601-1609,共9页李松赵毅强叶茂; 为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析,通过研究测试向量和移位周期等...; 关键词：可测试性设计(DFT) 扫描测试压缩测试数据容量测试时间嵌入式确定性测试(EDT) 自动测试向量生成(ATPG)

基于LUT的ATPG算法研究被引量：1: 《微电子学与计算机》2017年第4期44-48,共5页王志远李彩虹何安平; 国家自然科学基金项目(61073193;61300230);自然科学基金(61402121);中央高校基本科研业务费专项资金(861914); 随着科学技术尤其是半导体工艺与通信技术的快速发展,FPGA技术日趋成熟,采用FPGA的设计愈加广泛.随着系统设计的复杂化,其FPGA的验证在整个开发周期中占据的比重越来越大.针对以上背景,本文采用系统功能验证中常用的自动测试模式生成(AT...; 关键词：ATPG算法 ATALANTA FPGA LUT查找表

DFT与ATPG的低功耗设计原理与分析: 《电子设计工程》2016年第12期149-151,共3页丁伟; 文中介绍了在DFT与ATPG阶段均可通过各自的方法来达到降低测试功耗的目的。以实际项目为例,阐述了在DFT过程中分步法的原理,通过此方法可显著降低在Transition测试时的捕获功耗。同时也介绍了SYNOPSYS公司推荐的降低功耗的命令,评估其在...; 关键词：分步法覆盖率测试向量设计

Mentor Graphics最新Tessent ScanPro产品在测试数据量压缩方面实现巨大飞跃: 《中国集成电路》2015年第11期5-5,共1页; Mentor Graphics公司近日宣布推出新款Tessent ScanPro产品，该产品采用的技术可以显著提升使用Tessent Test Kompress ATPG压缩解决方案实现的测试模式容量的节省。由于测试模式的容量很大程度上决定了测试集成电路的成本和时间，; 关键词：GRAPHICS 测试模式产品压缩数据量 ATPG 集成电路容量

ATPG is required for the accumulation and function of chloroplast ATP synthase in Arabidopsis被引量：3: 《Chinese Science Bulletin》2013年第26期3224-3232,共9页KONG MengMeng WANG FenFei YANG ZhongNan MI HuaLing; supported by the National Natural Science Foundation of China (31070215 and 31100181);the State Key Basic Research and Development Program of China (2009CB118504); The subunit Ⅱ of chloroplast ATP synthase is one of the two peripheral stalks, which associates the catalytic CF1 with mem-brane-spanning CFo . Although the structural and functional roles of chloroplast ATP synthase...; 关键词：ATP合酶 ATPG 叶绿体拟南芥积累透射电子显微镜分析 T-DNA插入类囊体膜

Study on Test Compaction in High-Level Automatic Test Pattern Generation (ATPG) Platform被引量：1: 《Circuits and Systems》2013年第4期342-349,共8页Ayub Chin Abdullah Chia Yee Ooi; Advancements in semiconductor technology are making gate-level test generation more challenging. This is because a large amount of detailed structural information must be processed in the search process of automatic t...; 关键词：Automatic TEST Pattern Generation (ATPG) Constraint Logic Programming (CLP) Verilator Circuit-Under-Test (CUT) TEST COMPACTION

无线局域网通信芯片可测性设计及实现: 《中国集成电路》2012年第10期61-64,共4页吕品; 可测性设计已应用在大规模集成电路设计中。本文介绍了可测性设计原理和实现技术。同时介绍了一款无线局域网(WLAN)芯片,根据该芯片的结构特点,介绍了本款芯片应用的可测性技术以及实现过程,对使用的EDA工具及设计方法进行了深入描述。...; 关键词：WLAN 可测性设计(DFT) SCAN测试 ATPG MBIST

ATPG