参数成品率

作品数：16被引量：14H指数：2
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基于弹性网稀疏表示的芯片参数成品率估算方法被引量：1
《电子学报》2017年第12期2917-2924,共8页李鑫 孙晋 肖甫 
国家自然科学基金(No.61502234;No.71301081);江苏省自然科学基金(No.Bk20161072;No.Bk20150785;BK20130877);国家博士后基金(No.2014M551637);江苏省博士后基金(No.1401046C);复杂产品智能制造系统技术国家重点实验室开放基金(No.QYYE1603)
当前集成电路芯片参数成品率估算通常预设大量扰动基函数进行芯片性能模型构建,易造成成品率估算方法复杂度过高.而若随意减少扰动基函数数量,则极易造成成品率估算精度缺失.针对此问题,本文提出一种芯片参数成品率稀疏估算方法.该方法...
关键词：参数成品率估算 稀疏表示 弹性网 马尔科夫链 鞍点估计 
基于工艺参数扰动的IC参数成品率多目标优化算法
《电子学报》2016年第12期2960-2966,共7页李鑫 孙晋 肖甫 田江山 
在芯片制造工艺中,参数扰动影响了集成电路(Integrated Circuit,IC)成品率,使不同参数成品率间存在着此消彼长的相互制约关系,而目前IC参数成品率优化算法却主要局限于单一优化目标问题.本文提出一种基于工艺参数扰动的参数成品率多目...
关键词：可制造性设计 参数成品率 统计建模 多目标优化 帕累托最优 
基于置信规则库推理的电路参数成品率估计与中心值设计方法
《上海应用技术学院学报（自然科学版）》2016年第1期55-62,共8页刘征 徐晓滨 文成林 
国家自然科学基金资助项目(61374123;61433001);浙江省公益性技术应用研究计划资助项目(2012C2 1025);重庆市高等学校优秀人才支持计划资助(2014-18)
将电路仿真与主观设计经验相结合,建立成品率估计的置信规则库(BRB)推理模型,该模型不仅可建模输入电路参数变量与输出参数成品率之间复杂的非线性关系,且能通过证据推理(ER)过程,给出不同输入下输出成品率的估计值.利用BRB推理模型可...
关键词：中心值设计 参数成品率 可靠性分析 置信规则库 证据推理 
填充辅助多晶硅图形的参数成品率版图优化
《浙江大学学报（工学版）》2015年第12期2333-2339,共7页韩晓霞 韩雁 
国家青年自然科学基金资助项目(61106035);国家自然科学基金资助项目(61274035)
在纳米工艺下,为了更好地抵抗工艺波动的影响,减小位于标准单元边界处的MOS管沟道长度随聚焦误差引起的变化,提出在现有版图基础上在两相邻标准单元间填充最优辅助多晶硅图形的版图优化方式以提高芯片的参数成品率.通过修改所填充的辅...
关键词：参数成品率 聚焦误差 光刻仿真 版图优化 工艺波动 
超深亚微米集成电路互连线几何变异提取方法
《现代电子技术》2009年第16期22-24,共3页高盼盼 叶兵 
硅片上互连线几何变异提取对于超深亚微米工艺节点下集成电路可制造性设计研究开发极其关键。这里基于电阻和电容等电学测试结构相应的数学计算公式,阐述进行互连线几何变异提取的方法,分析所采用的测试结构与计算公式的可行性,讨论误...
关键词：互连线 几何变异提取 可制造性设计 参数成品率 测试结构 
吉时利与Stratosphere Solutions合作研发65nm以下先进工艺特征分析技术
《信息技术与标准化》2008年第3期60-60,共1页
日前，吉时利公司宣布将与致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案的Stratosphere Solutions公司合作推出可互操作硅验证解决方案，该方案将进一步提高工艺参数成品率。
关键词：吉时利公司 工艺特征 合作 参数成品率 技术 研发 集成电路制造 可互操作 
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术
《电子与电脑》2008年第3期102-103,共2页
新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司。日前宣布将与Stratosphere Solutions公司合作。Stratosphere Solutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。吉时利与Stratosphere Solution...
关键词：工艺特征 吉时利 技术 研发 集成电路制造 参数成品率 仪器公司 
吉时利联合Stratophere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术
《电子测试》2008年第4期90-90,共1页
日前,吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）宣布将与Stratosphere Solutions公司（Sunnyvale,CA）合作。Stratosphere Solutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。吉时利与Stratosphere Soluti...
关键词：工艺特征 吉时利 技术 研发 集成电路制造 参数成品率 参数测试仪 半导体工艺 
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术
《国外电子测量技术》2008年第2期84-84,共1页
关键词：工艺特征 吉时利 技术 研发 参数成品率 集成电路制造 仪器公司 ns公司 
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术
《电子测量技术》2008年第2期195-195,共1页
关键词：参数成品率 工艺特征 吉时利 可互操作 合作 技术 研发 硅验证 
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