测试向量生成

作品数：17被引量：40H指数：3
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指定逻辑的电路最小项扰动算法被引量：1
《计算机辅助设计与图形学学报》2020年第6期1009-1016,共8页高文超 罗世玲 周强 
国家自然科学基金(61774091);北京国家信息科学技术研究中心(BNR2019ZS01001)。
针对现有的基于最小项的伪装算法不能稳定地生成最小项扰动电路,而且不能控制指定逻辑,使得该技术难以在实际电路中使用的问题,提出了一种最小项扰动算法,通过引入原始输入信号并缩小受逻辑门影响的最小范围,快速找到单个最小项扰动.同...
关键词：逆向工程 IC伪装 最小项保护 测试向量生成 引入原始输入 
基于失败向量信息的难测固定故障测试向量生成
《微电子学与计算机》2017年第4期140-145,共6页黄斌科 邓亮 赵秀才 侯明星 
针对数字电路中难测固定故障测试向量生成效率低的问题,基于失败向量信息实现难测固定故障的测试向量生成.该方法利用难测固定故障失败向量与成功向量在端口逻辑值上可能具有的相反属性,以输入端口逻辑值的概率信息量化失败向量的特征,...
关键词：难测固定故障 测试向量生成 失败向量 生成概率 
基于节点活性的硬件木马检测方法被引量：2
《微电子学与计算机》2017年第1期35-39,共5页冯秋丽 侯波 刘燕江 恩云飞 王力纬 
本文提出了一种基于节点活性的硬件木马检测方法,针对电路中的低活性节点生成测试向量,结合多参数旁路检测方法,实现对硬件木马的检测.以AES为目标电路并植入硬件木马,进行仿真及FPGA实验,实验结果表明与随机测试向量相比,本文生成的测...
关键词：芯片安全 硬件木马检测 节点活性 测试向量生成 
基于TDS系统的超大型测试向量生成技术研究被引量：3
《微处理机》2016年第5期17-20,24,共5页石志刚 刘伟 金兰 吉国凡 
超大型测试向量生成技术是数字电路芯片测试中的难点,对芯片测试效率和产品良率都有较大影响。介绍一种基于TDS向量生成系统的超大型测试向量生成技术。阐述了TDS向量生成系统的体系结构,以某超大型测试向量的生成过程为例,介绍该系统...
关键词：芯片测试系统 系统架构 向量生成 优化 压缩 模块化 
基于探索式分区和测试向量生成的硬件木马检测方法被引量：6
《电子学报》2016年第5期1132-1138,共7页薛明富 胡爱群 王箭 
江苏省自然科学基金青年基金(No.BK20150758);中国博士后科学基金面上资助(No.2014M561644);江苏省博士后基金科研资助(No.1402034C);中国民航信息技术科研基地开放课题基金(No.CAAC-ITRB-201405);中央高校基本科研业务费专项资金资助(No.NS2016096)
本文提出基于分区和最优测试向量生成的硬件木马检测方法.首先,采用基于扫描细胞分布的分区算法将电路划分为多个区域.然后,提出测试向量重组算法,对各区域依据其自身结构生成近似最优的测试向量.最后,进行分区激活和功耗分析以检测木马...
关键词：硬件安全 硬件木马检测 探索式分区 最优测试向量生成 
基于内建自测试的测试向量生成方法被引量：1
《电脑与电信》2014年第6期44-46,57,共4页魏淑华 禚永 
北京市教委科研计划,项目编号:KM201410009005
内建自测试(BIST)方法是目前可测性设计(DFT)中最具应用前景的一种方法。BIST能显著提高电路的可测性,而测试向量的生成是关系BIST性能好坏的重要方面。测试生成的目的在于,生成可能少的测试向量并用以获得足够高的故障覆盖率,同时使得...
关键词：可测性设计 内建自测试 测试向量生成 线性反馈移位寄存器 
Perl语言在测试向量生成中的应用被引量：2
《电子产品可靠性与环境试验》2012年第B05期144-147,共4页王小强 王晓晗 
测试向量是集成电路测试必须配置的文件。以10位D/A转换器为例,在器件的时序特性分析的基础上,利用Perl进行数据处理而产生测试向量文件。通过验证,实现了Perl高效生成测试向量文件的应用。
关键词：实用提取和报表语言 集成电路测试 测试向量 
无回溯并行多路径搜索测试向量生成算法被引量：3
《计算机应用》2010年第5期1390-1393,共4页黄越 于宗光 万书芹 
江苏省自然科学基金资助项目(BK2007026);江苏省"333高层次人才培养工程"专项资助项目(2007124)
无回溯并行多路径搜索算法(NBMP)在生成测试向量过程中生成基于原始输入端奇异立方和与原始输出端关联的传输立方,并利用生成的奇异立方和传输立方生成测试向量。算法在实现过程采用无须回溯和多路径探索策略。通过分析和实验结果证明...
关键词：数字电路 基准电路 测试向量生成 故障覆盖率 多路径 
基于边界扫描的板级互连测试及测试向量生成
《自动化信息》2009年第11期49-50,61,共3页鲁长江 王志刚 兰京川 
针对现有测试向量的不足，该文介绍了边界扫描的基本原理和结构并且分析了测试算法，重点论述了在互连测试中向边界扫描单元预装测试向量和提取响应的方法，最后提出了一种可施加于电路板扫描链上的测试向量生成方法。实验结果表明，该...
关键词：边界扫描 互连测试 测试向量 测试算法 
微捷码发表Talus ATPG与Talus ATPGX片上扫描链压缩新产品
《电子元器件应用》2007年第12期I0006-I0006,共1页
芯片设计解决方案供应公司微捷码（Magma）设计自动化公司日前宣布推出了具有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX新产品。这些先进的自动测试向量生成（ATPG）产品使设计师能明显改进测试质量，减少产品开发的周转时间并降低...
关键词：产品开发 ATPG 压缩功能 扫描链 设计自动化 测试向量生成 物理相关 纳米级芯片 
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