简文翔

作品数:5被引量:2H指数:1
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供职机构:复旦大学信息科学与工程学院专用集成电路与系统国家重点实验室更多>>
发文主题:变式RRAM总剂量随机存储器存储器更多>>
发文领域:电子电信电气工程更多>>
发文期刊:《固体电子学研究与进展》《复旦学报(自然科学版)》更多>>
所获基金:国际科技合作与交流专项项目湖北省自然科学基金上海市自然科学基金国家自然科学基金更多>>
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65nm标准CMOS工艺阈值电压系统波动检测方案设计
《固体电子学研究与进展》2013年第4期377-381,共5页袁瑞 董庆 简文翔 林殷茵 
设计了一种标准CMOS工艺下的阈值电压系统波动检测电路,其检测电路核心部分是工作在亚阈值区的环形振荡器(SRO)。该方案包括8种级数、2种尺寸共16种SRO,并以8种级数、2种尺寸共16种传统环形振荡器(RO)作对比,在SMIC 65nm标准CMOS工艺上...
关键词:系统波动 亚阈值 环形振荡器 标准互补金属氧化物半导体工艺 
基于Cu_xSi_yO阻变材料的RRAM抗总剂量辐照性能
《复旦学报(自然科学版)》2013年第3期292-296,共5页朱伟 简文翔 薛晓勇 林殷茵 
国家"863"高技术研究发展计划资助项目(2008AA031401;2011AA010404);国家自然科学基金资助项目(2011ZX02502);上海市自然科学基金重点项目(12XD1400800)
研究了基于CuxSiyO结构的阻变式随机存储器(RRAM)的抗总剂量辐照能力.存储器芯片置于钴源辐照室内,通过60 Co释放出的γ射线模拟空间辐照环境.在辐照总剂量达到3 000Gy的条件下,单元仍然可以保持原有的存储信息,高低阻态的阻值、写电压...
关键词:阻变式随机存储器 总剂量辐照 CuxSiyO 60Coγ射线 
65nm SRAM传统静态指标的测试方案及研究被引量:2
《固体电子学研究与进展》2011年第6期613-618,共6页陈凤娇 简文翔 董庆 袁瑞 林殷茵 
65nm及其以下工艺,工艺波动对SRAM性能影响越来越大。SRAM读写噪声容限能够反映SRAM性能的好坏,对于预测SRAM良率有着重要的作用。采用一种新型测试结构测量SRAM读写噪声容限(即SRAM传统静态指标),该测试结构能够测量65nm SRAM在保持、...
关键词:工艺波动 传统静态指标 静态随机存取存储器 测试结构 四端结构 
适用于射频识别标签的64-kbit嵌入式阻变存储器
《固体电子学研究与进展》2011年第4期398-403,共6页毕中裕 简文翔 金钢 彭巍 闫娜 闵昊 林殷茵 
国家重点实验室面上项目(09MS009);国际科技合作项目(2010DFB13040)
设计并实现了一颗适用于射频识别(RFID)标签的低功耗嵌入式64-kbit阻变存储器芯片。提出了新型的带尖峰电流控制功能的高压稳压电路,在提供稳定编程电压的同时降低了芯片电源上的瞬态大电流,改善了存储器电路的可靠性;设计了适用于2T2R(...
关键词:阻变存储器 低功耗 射频识别标签 高压稳压环路 电容分压 
弛张振荡器在高精度体温计芯片中的应用
《固体电子学研究与进展》2008年第3期430-434,共5页邹志革 邹雪城 简文翔 
湖北省自然科学基金项目(No.226ABA080)资助
设计了一款基于弛张振荡器的温度测量电路,通过参考/感应振荡器电路,将热敏电阻的阻值变化转变成数字化的频率信号送系统处理。弛张振荡器使用了具有施密特触发器相同功能的RS触发器,降低了芯片对工艺的要求,便于在低电压和宽温度范围...
关键词:温度测量 弛张振荡器 RS触发器 施密特触发器 体温计 
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