管光宝

作品数：4被引量：15H指数：3
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供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文主题：盐雾集成电路盐浓度可靠性流速更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《半导体技术》《电子与封装》《电子产品可靠性与环境试验》更多>>
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高温贮存寿命评估试验被引量：4
《电子与封装》2014年第5期37-41,共5页管光宝 凌勇 俞浩新 
元器件分别进行常温储存试验和高温贮存试验,通过常温储存试验累积试验数据并以此研究总结元器件长期储存性能参数变化规律和失效模式。通过高温贮存试验加速元器件常温储存过程累积试验数据,根据关键参数随加速试验的变化情况,得到高...
关键词：长期贮存寿命 失效模式 高温 
IC长贮存寿命评价方法
《电子与封装》2013年第9期40-43,共4页管光宝 尹颖 章慧彬 
高可靠长寿命产品在军事、航空航天、电子工业、通信等领域应用越来越广泛,如何保障其可靠性与预测其寿命是值得深入研究的重要问题。越来越多的单位,特别是航空航天系统的单位,对其选用的产品提出了具有32年贮存寿命要求的高可靠性指...
关键词：长贮存寿命 失效模型 失效机理 加速因子 
集成电路抗腐蚀能力的研究被引量：5
《电子产品可靠性与环境试验》2005年第4期30-33,共4页杜迎 管光宝 
首先介绍了塑封电路、玻璃封装电路和陶封电路的构成材料,然后分别选取这3种电路的若干只样品,按几种试验条件进行了盐雾试验,针对试验后在电路上出现的腐蚀现象进行了理论分析,最后总结了3种电路各自的抗腐蚀能力。
关键词：集成电路 腐蚀 盐雾 封装 
集成电路可靠性试验——盐雾技术研究被引量：6
《半导体技术》2004年第9期45-48,共4页杜迎 朱卫良 管光宝 
对盐雾试验的条件进行了分析。通过试验,验证了温度、盐浓度、氧溶解度和流速对盐雾试验的影响以及研究分析样品的摆放技术。
关键词：集成电路 可靠性 盐雾 盐浓度 氧溶解度 流速 
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