朱卫良

作品数：21被引量：90H指数：6
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供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文主题：集成电路陶瓷封装微电子器件可靠性工艺技术要求更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术机械工程核科学技术更多>>
发文期刊：《计算机与数字工程》《微电子技术》《现代电子技术》《机械设计》更多>>
所获基金：江苏省自然科学基金江苏省科技支撑计划项目江苏省基础研究计划更多>>
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转盘式分选机中高速旋转吸盘的动力学分析与计算被引量：6
《机械设计》2011年第12期35-38,共4页芦俊 曹盘江 皮志松 朱卫良 
江苏省科技支撑计划基金资助项目(BE2009017)
针对转盘式集成电路测试分选机中的高速旋转吸盘,进行了动力学分析,推导了真空吸盘在吸持电路做高速旋转运动情况下,所需动态吸力的计算公式。选择不同的角速度控制曲线,计算出在设计指标测试分选产量(Unit Per-cent Hour,UPH)为36 000...
关键词：转盘式分选机 动态吸力 高速旋转吸盘 电路 
LVDS(低压差分信号)测试技术研究被引量：6
《电子与封装》2011年第11期14-17,共4页柴海峰 朱卫良 章慧彬 武乾文 
LVDS信号是一种高速串行总线标准,主要应用在视频信号传输等领域。LVDS器件应用越来越广泛,其测试技术面临越多挑战。文章首先介绍了LVDS信号的特点,从信号完整性方面介绍了LVDS在设计时需要注意的问题,并讨论了LVDS器件测试中涉及到的...
关键词：低压差分信号 抖动 眼图 误码率 
基于虚拟仪器的直接频率合成器相位噪声测量被引量：2
《计算机与数字工程》2010年第9期31-34,共4页芦俊 朱卫良 毛伟民 柴海峰 
相位噪声是DDS(直接频率合成器)的一个重要测量指标。介绍了基于虚拟仪器技术,把各个测量仪器有机地组建成DDS相位噪声的自动测量平台。通过高速数字DIO卡对DDS内部各个控制寄存器进行配置,调节DDS输出波形的频率,利用信号分析仪的相位...
关键词：相位噪声 DDS 虚拟仪器 测量 
基于边缘检测的载带压痕检测被引量：3
《计算机测量与控制》2010年第7期1483-1484,1506,共3页毛伟民 芦俊 朱卫良 胡志川 
江苏省自然科学基金(BK2008537)
为了检测编带后的烫封质量,提出了一种基于边缘检测的载带压痕检测方法;该算法将边缘检测与链码技术相结合,先通过拉普拉斯高斯边缘检测算法得到初始边缘,然后对提取到的边缘进行链码追踪,根据提出的合并准则对获得的链码进行合并,再利...
关键词：边缘检测 载带 直线检测 链码 
FPGA电路动态老化技术研究被引量：3
《电子与封装》2010年第7期24-27,共4页郁振华 朱卫良 
近年来,随着FPGA电路在军工和航天领域的广泛应用,用户对FPGA电路的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性评估试验中,动态老化试验是最重要的试验之一,FPGA动态老化技术的实现可以提高FPGA电路的可靠性。文章通过研究FPGA电路内部...
关键词：可靠性 动态老化 FPGA 配置 
集成电路印字的定位和字符分割技术研究被引量：1
《现代电子技术》2010年第6期125-127,134,共4页芦俊 毛伟民 朱卫良 皮志松 
江苏省基础研究计划(自然科学基金)(BK2008537)
提出一种基于数学形态学定位和模糊模板匹配及垂直投影相结合的字符分割算法。先通过形态学运算得到一系列候选区域,根据先验知识从中找出封装体所在区域,再利用模糊模板匹配的方法找到字符区域,通过字符垂直投影进行单个字符分割。通...
关键词：印字定位 字符分割 数学形态学 垂直投影 
基于TestStand的DDS特性参数自动测试管理被引量：5
《半导体技术》2009年第10期957-959,共3页芦俊 曹俊 朱卫良 杜旭超 
江苏省自然科学基金(BK2008537)
介绍了基于TestStand软件对DDS特性参数进行自动化测试的流程管理。DDS测试参数包括常规参数和特性参数,常规参数由普通的专用测试设备即可测试,而特性参数由于测试项目繁多,测试要求高,采用普通的测试设备难以测全所有参数,且精度难以...
关键词：直接数字频率合成 TestStand软件 自动测试 测试管理 
塑封器件无损开封技术介绍被引量：5
《电子与封装》2009年第9期12-15,19,共5页尹颖 朱卫良 
随着现代微电子行业的发展,对产品质量和结构安全性、使用可靠性提出了越来越高的要求。由于无损检测(NTD)技术具有不破坏试件、检测灵敏度高等优点,其应用日益广泛。塑封材料又以其低成本、生产工艺简单、适合大规模生产等特点,占据了...
关键词：塑封器件 封装形式 无损 开封 
一种新型IC保护单元ESD评价方式——TLP测试被引量：7
《电子与封装》2008年第12期13-16,共4页陆坚 朱卫良 
集成电路的抗ESD能力主要是通过端口的保护结构组合来实现,如何评价保护结构自身的抗ESD能力,被广大的设计人员所越发重视。文章主要介绍一种新型的集成电路ESD保护结构的抗ESD能力测试方式-TLP(传输线测试)测试方式,文章介绍了TLP测试...
关键词：传输线脉冲 静电放电 被测器件 二次崩溃电流 时域反射 时域传输与反射 时域传输 
集成电路动态老化新技术的实施被引量：4
《电子与封装》2008年第11期12-15,42,共5页朱卫良 
在集成电路的可靠性评估试验中,动态老化项目是最重要的试验之一。文章提出了利用新技术对集成电路进行动态老化测试的全新方法,该新方法可以对老化线路板的关键电路信息和老化环境进行多路全面测试的监控,全面提高监控范围,及时发现老...
关键词：可靠性 动态老化 监控 数据采集 
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