陈真

作品数：8被引量：8H指数：2
导出分析报告
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文主题：老炼可靠性MCUMULTI-SITE设计方法更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《电子质量》《电子与封装》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-8
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
电源模块在老炼试验中的使用
《电子质量》2023年第11期89-92,共4页周杰 徐伟伟 陈真 
芯片老炼试验过程中,需要对芯片进行不间断供电,以保持芯片稳定运行。随着新研制芯片的功率越来越大,一块载板上需要放置很多芯片同时进行老炼,就需要我们在供电方面进行优化。首先,结合工作中遇到的一些项目实例,具体阐述了用电源模块...
关键词：老炼 供电 电源模块 线性稳压电源 开关模式电源 
电路板设计与制造的衔接探讨被引量：2
《电子质量》2021年第10期142-146,共5页陈真 李小亮 周蕾 
PCB设计是电子技术发展环节上必不可少的一环,随着电子电路的集成度越来越高,PCB的设计也越来越复杂,这对硬件工程师的设计要求也越来越高。实现电路板设计与制造的无缝连接,提高加工质量、生产效率、电子产品可靠性,降低成本,显得尤为...
关键词：PCB设计 可靠性 制造 规则 
提高老炼试验板可靠性的设计方法实例分析被引量：3
《电子质量》2020年第12期46-51,共6页陈真 冯慧玲 成锡军 
老炼试验板(PCB)是电子产品老炼过程中电路元件和器件的支撑件,为电路元件和器件之间提供电气连接。通过对典型案例的异常问题进行分析,提出了提高PCB可靠性设计的改善方法和完善措施,从影响PCB设计的"布通率"和抗干扰性方面,针对布局...
关键词：PCB 可靠性设计 PCB板优化 
一种关于老炼试验过程状态监测方法的研究
《电子与封装》2018年第A01期64-66,共3页冯慧玲 陈真 
老炼试验是能将早期失效剔除的无损试验技术，是集成电路筛选流程中重要的一环，试验过程中随时监测受试器件工作状态是提高试验水平的重要手段。主要研究如何在老炼试验过程中实时监测受试器件的工作状态。通过对受试器件输出波形进行...
关键词：老炼试验 单片机 信号处理 状态监测 
差分信号在印制线路板上的实现
《电子与封装》2018年第4期38-41,共4页李小亮 陈真 
差分信号又称差模信号,区别于传统的一根信号线一根地线的做法。主要研究如何在印制板上实现差分信号的传输,并且可以在125℃的高温环境下使用,这对集成电路高温加电有重大意义。通过对外置驱动板(包括通用驱动板和特制驱动板)和内置驱...
关键词：差分信号 印制线路板 内置驱动 外置驱动 
基于电机驱动芯片的扫描测试实现
《电子与封装》2015年第11期14-16,47,共4页陈真 张凯虹 王建超 
详细介绍了电机驱动芯片的基本构成及工作原理,通过原理图的设计和PCB的绘制,实现了对电机驱动芯片的扫描测试。讨论了电机驱动芯片扫描测试中的难点,针对调试过程中遇到的问题,给出了解决办法并得到良好的效果。电机驱动芯片的扫描测...
关键词：电机驱动芯片 扫描测试 
一种高效率MCU芯片Multi-Sites测试技术被引量：3
《电子与封装》2014年第11期13-15,共3页陈真 陆锋 张凯虹 
介绍了使用Multi-Sites工程测试技术提高MCU芯片测试效率的方案。针对MCU芯片Multi-Sites测试难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试中电性能测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进...
关键词：MCU Multi-Sites 测试效率 
MCU芯片Multi-Sites测试中几个值得关注的问题被引量：1
《电子与封装》2014年第6期12-14,共3页陈真 陆锋 张凯虹 
介绍了MCU芯片Multi-Sites测试方法,针对MCU芯片Multi-Sites测试的难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常影响测试系统和测试效率的问题。主要提出了MCU芯片MultiSites测试过程中的直流参数测试、功能测试的影响因素和解决方案...
关键词：MCU Multi—Sites 直流参数测试 功能测试 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部