等离子体刻蚀

作品数:172被引量:335H指数:8
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CF4和O2等离子体刻蚀改善氮化硅薄膜形貌研究被引量:5
《集成电路应用》2019年第7期40-43,共4页魏育才 
福建省科技型企业技术创新课题项目
探讨PA工艺因介电层高低差发生金属线路内部断裂的改善方案。以不同光刻条件和刻蚀条件为基础,对介电层(Si3N4)进行ICP刻蚀。研究表明,增加曝光焦距,刻蚀完的侧壁倾斜角改变不大;而光刻胶对氮化硅的刻蚀选择比越高,刻蚀完氮化硅侧壁斜...
关键词:CF4和O2等离子刻蚀 ICP刻蚀 氮化硅刻蚀 掩膜退缩 PA工艺 
华虹半导体功率器件平台累计出货量突破500万片晶圆
《集成电路应用》2017年第4期90-90,共1页
华虹半导体有限公司宣布,功率器件平台累计出货量已突破500万片晶圆。其中,得益于市场对超级结MOSFET(金氧半场效晶体管)和IGBT(绝缘栅双极型晶体管)的强劲需求,华虹半导体独特且具竞争力的垂直沟槽型Super Junction MOSFET(SJNFE...
关键词:半导体功率器件 等离子体刻蚀 离子刻蚀 半导体设备 导通电阻 开关速度 光刻胶 去胶 开关损耗 等离子体蚀刻 
中微Primo SSC AD-RIE已用于16纳米关键闪存芯片加工
《集成电路应用》2014年第2期9-9,共1页
中微半导体设备有限公司宣布获得韩国先进存储芯片生产厂商购买Primo SSC AD-RIE(中微单反应台等离子体刻蚀设备)的重复订单。该设备被客户认可为用于16纳米关键闪存芯片加工的首选设备(PTOR),将用于大批量芯片生产。此前,中微的Primo S...
关键词:闪存芯片 半导体设备 等离子体刻蚀 芯片生产 存储芯片 首选设备 刻蚀工艺 刻蚀技术 生产厂商 副总 
用于实时刻蚀深度控制的光干涉测量法
《集成电路应用》2007年第4期59-59,共1页宋一平 
对等离子体刻蚀工艺过程中进行刻蚀的终点检测主要应用在以下两个方面:一是刻蚀穿透一种材料并在另一种材料的表面刻蚀过程终止.二是在一种材料内刻蚀到所需的深度后终止。在第一种应用中.由于刻蚀过程中不同材料的光发射谱是不一样...
关键词:表面刻蚀 干涉测量法 深度控制 实时 等离子体刻蚀 终点检测 光发射谱 工艺过程 
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