周文

作品数：3被引量：1H指数：1
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供职机构：西安电子科技大学更多>>
发文主题：可靠性互连线IC铜互连边界值更多>>
发文领域：电子电信经济管理更多>>
发文期刊：《物理学报》《中国科学：物理学、力学、天文学》《电子与信息学报》更多>>
所获基金：国家自然科学基金高等学校科技创新工程重大项目西安应用材料创新基金教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
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GaN基p-i-n型紫外探测器光生载流子屏蔽效应模型
《中国科学：物理学、力学、天文学》2010年第8期966-974,共9页高博 刘红侠 匡潜玮 周文 曹磊 
国家自然科学基金(批准号:60976068);教育部科技创新工程重大项目培育资金(编号:708083)、教育部新世纪优秀人才计划(编号:NCET-05-0851)、教育部博士点基金(编号:200807010010)资助项目
通过求解光生载流子连续性方程,得出GaN基p-i-n型紫外探测器耗尽层中的光生载流子密度分布.根据泊松方程计算了光生载流子屏蔽电场,并通过数值计算方法将光生载流子屏蔽电场引入器件模型,建立了光生载流子屏蔽效应模型.在此基础上,讨论...
关键词：GAN P-I-N 紫外探测器 光生载流子屏蔽效应 
IC中多余物缺陷对信号串扰的定量研究被引量：1
《电子与信息学报》2010年第1期210-213,共4页周文 刘红侠 匡潜玮 高博 曹磊 
国家自然科学基金(60206006);教育部科技创新工程重大项目培育资金(708083);教育部新世纪优秀人才计划(NCET-05-0851);西安应用材料创新基金(XA-AM-200701)资助课题
该文研究了铜互连线中的多余物缺陷对两根相邻的互连线间信号的串扰,提出了互连线之间的多余物缺陷和互连线之间的互容、互感模型,用于定量的计算缺陷对串扰的影响。提出了把缺陷部分单独看作一段RLC电路模型,通过提出的模型研究了不同...
关键词：集成电路 多余物缺陷 信号串扰 铜互连 可靠性 
有丢失物缺陷的铜互连线中位寿命的定量研究
《物理学报》2009年第11期7716-7721,共6页周文 刘红侠 
国家自然科学基金(批准号:60206006);教育部科技创新工程重大项目培育资金项目(批准号:140502083);教育部新世纪优秀人才计划(批准号:NCET-05-0851);西安应用材料创新基金(批准号:XA-AM-200701)资助的课题~~
本文研究了六层互连线上的丢失物缺陷对互连电迁移中位寿命的影响,提出了各层互连线缺陷处的温度模型和缺陷在不同互连层的中位寿命模型,能够定量地计算缺陷对互连电迁移中位寿命的影响,给出了提高互连线中位寿命的方法.研究结果表明:...
关键词：丢失物缺陷 中位寿命 可靠性 铜互连 
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