屈静

作品数:4被引量:4H指数:1
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供职机构:北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
发文主题:掺杂仿真快恢复二极管IGBT关断损耗更多>>
发文领域:电子电信更多>>
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所获基金:国家教育部博士点基金国家电网公司科技项目国家自然科学基金更多>>
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功率快恢复二极管反偏ESD与雪崩耐量仿真
《半导体技术》2015年第1期24-28,共5页屈静 吴郁 刘钺杨 贾云鹏 匡勇 李蕊 苏洪源 
国家自然科学基金资助项目(61176071);教育部博士点学科专项科研基金资助项目(20111103120016);国家电网公司科技项目(SGRI-WD-71-13-006)
静电放电(ESD)失效与雪崩耐量是影响高压硅功率二极管,如功率快恢复二极管(FRD)性能及可靠性的两个主要因素。利用ISE TCAD平台,采用简明分段线性电流源,分别对功率FRD反偏ESD过程及雪崩耐量进行仿真计算,讨论二者的共性和差异。结果表...
关键词:快恢复二极管(FRD) 静电放电(ESD) 雪崩耐量 电压过冲 雪崩注入 
缓变场终止型IGBT特性的仿真被引量:2
《半导体技术》2015年第1期29-33,43,共6页匡勇 贾云鹏 金锐 吴郁 屈静 苏洪源 李蕊 
国家自然科学基金资助项目(61176071);教育部博士点学科专项科研基金资助项目(20111103120016);国家电网公司科技项目(SGRI-WD-71-13-006)
为改善场终止型绝缘栅双极型晶体管(FS-IGBT)电场终止能力的可靠性,对一种缓变场终止型绝缘栅双极型晶体管(GFS-IGBT)的特性进行了仿真研究。与传统FS-IGBT的突变场终止层不同,GFS-IGBT所具有的场终止层是一个厚度为20-30μm,峰值...
关键词:缓变掺杂 绝缘栅双极型晶体管(IGBT) 通态压降 关断损耗 场终止结构 
150V电荷耦合功率MOSFET的仿真被引量:1
《半导体技术》2014年第12期902-907,共6页李蕊 胡冬青 金锐 贾云鹏 苏洪源 匡勇 屈静 
国家自然科学基金资助项目(61176071);教育部博士点学科专项科研基金资助项目(20111103120016);国家电网公司科技项目(SGRI-WD-71-13-006)
电荷耦合是适用于中等电压功率MOSFET设计的先进设计理念之一,该设计思想旨在改善器件阻断态下的电场分布从而提高耐压。针对150V电荷耦合功率MOSFET双外延漂移区(分别为电荷耦合区N1区与非耦合区N2区)电荷匹配问题进行了仿真优化研...
关键词:金属氧化层半导体场效晶体管(MOSFET) 变掺杂 电荷耦合 场板 低栅漏电容 
600V高性能新型槽栅内透明IGBT的仿真被引量:1
《半导体技术》2014年第12期908-916,共9页苏洪源 胡冬青 刘钺杨 贾云鹏 李蕊 匡勇 屈静 
国家自然科学基金资助项目(61176071);教育部博士点学科专项科研基金资助项目(20111103120016);国家电网公司科技项目(SGRI-WD-71-13-006)
载流子存储层(CSL)可以改善IGBT导通态载流子分布,降低通态电压,但影响器件阻断能力。为了平衡载流子存储层对器件阻断能力的影响,在器件n-漂移区中CSL层处近哑元胞侧设计了p型埋层(p BL),利用电荷平衡的理念改善电场分布,并借助ISE-TAC...
关键词:p型埋层载流子存储层内透明集电极绝缘栅双极晶体管(CSL-pBL-ITC-IGBT) 哑元胞 载流子存储层 p型埋层 槽栅 
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