国家自然科学基金(60173042)

作品数：26被引量：54H指数：5
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相关期刊：《微电子学与计算机》《计算机辅助设计与图形学学报》《福建电脑》《计算机应用研究》更多>>
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基于粒子群算法的瞬态电流测试生成研究
《福建电脑》2015年第10期1-3,共3页曾晓杰 
国家自然科学基金资助项目(60173042)
瞬态电流测试(IDDT Testing)法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。但测试时需要一次生成两个或两个以上向量,且测试向量的生成比较复杂,因此提高测试效率的关键在于寻找高效的测试向量产生算法。...
关键词：粒子群算法 瞬态电流 SPICE模拟 测试产生 
用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器
《微处理机》2008年第1期5-8,共4页邓杭剑 邝继顺 蔡烁 
国家自然科学基金资助(60173042)
全速电流测试是一种新的电路测试方法。这里将一种指令级的全速电流测试方法应用到RISC指令集流水线结构的PIC12F509微处理器测试实验中。实验结果表明使用指令级的全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的。
关键词：全速电流测试 PIC12F509微处理器 指令级 流水线 
基于一类新窗的高精度相位差测量方法被引量：5
《系统仿真学报》2007年第23期5543-5545,5577,共4页易立强 邝继顺 欧阳雄 
国家自然科学基金项目(60173042)
提出了一类新窗——组合双窗,其由传统的组合余弦窗通过卷积运算生成。该类窗构造简单,具有旁瓣衰减速率快,更好地抑制频谱泄漏影响等特点。应用于相位差测量,有效地减小了非同步采样情况下由于频谱泄漏而引起的测量误差,对谐波和噪声...
关键词：相位差测量 离散傅里叶变换 频谱泄漏 窗函数 
一种基于混沌搜索的I_(DDT)测试产生算法
《计算机应用研究》2007年第12期94-96,105,共4页汪琼 邝继顺 邓杭剑 
国家自然科学基金资助项目(60173042)
针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。该算法利用改进FAN算法的反向蕴涵部分激活故障并将测试向量空间映射到混沌空间,采用混沌搜索来确定未确定的测试向量位。模拟实验结果表明,将这种方法用于瞬态电流测试产生是可行的。
关键词：瞬态电流 混沌搜索 反向蕴涵 测试产生 波形模拟器 
一种检测冗余故障的瞬态电流测试方法被引量：1
《微电子学与计算机》2007年第11期77-79,82,共4页崔昌明 邝继顺 蔡烁 
国家自然科学基金项目(60173042)
数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法(VoltageTesting)和稳态电流测试方法(IDDQTest-ing)检测出来的。根据瞬态电流测试(IDDQTesting)的思想,提出一种检测冗余故障的方法,该方法利用扇出重汇聚结构当中从扇出点到重汇聚点...
关键词：数字电路 冗余故障 瞬态电流测试 
一种基于I_(DDT)测试的时延故障测试产生算法
《微处理机》2007年第3期14-17,20,共5页蔡烁 邝继顺 崔昌明 
国家自然科学基金项目资助(No:60173042)
瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试(IDDQ Testing)方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不同的故障类型,基于瞬态电流测试的测试方法也有所不同。这里提出了一种关于时延故障的测试产生算法...
关键词：瞬态电流测试 时延故障 PSPICE模拟 测试产生 
基于蚂蚁路径的I_(DDT)测试生成被引量：3
《科学技术与工程》2007年第17期4364-4368,共5页曾晓杰 邝继顺 
国家自然科学基金(60173042)资助
始于90年代的瞬态电流测试(I_(DDT) Testing)法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。瞬态电流测试产生需要一次产生两个或两个以上向量。其测试向量产生比较复杂,寻找高效的测试向量产生算法对提高...
关键词：瞬态电流 蚂蚁算法 SPICE模拟 测试产生 
基于测试片段间转移的低功耗BIST实现
《微处理机》2007年第2期8-10,13,共4页杨婷 邝继顺 
国家自然科学基金(60173042)
随机测试向量产生时,一大部分的测试功耗是由于那些无贡献的测试向量所引起的。文中提出了一种基于测试片段间的转移低功耗BIST结构,该结构采用有效测试向量片段间转移的方式,除去了由随机产生而对故障覆盖率没有贡献的无效向量,并把有...
关键词：内建自测试 测试向量片断 低功耗测试 
用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究
《计算机研究与发展》2007年第3期479-486,共8页荀庆来 邝继顺 闵应骅 
国家自然科学基金项目(60173042)
全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方...
关键词：全速电流测试 瞬态电流测试 微处理器测试 指令序列 
一种基于Loeffler算法的快速实现2D DCT/IDCT的方法被引量：5
《计算机应用研究》2007年第1期224-226,231,共4页罗天煦 邝继顺 
国家自然科学基金资助项目(60173042)
提出了一种基于Loeffler[8]算法的快速实现二维离散余弦变换/反离散余弦变换(2D DCT/IDCT)的方法。采用行列分解的方式,仅使用一个1D DCT/IDCT处理核快速完成8×8的2D DCT/IDCT变换。通过合理安排时钟周期数和简化各周期内的操作,使1D D...
关键词：二维离散余弦变换 行列分解法 现场可编程门阵列 
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