固相外延生长

作品数:9被引量:6H指数:1
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相关领域:电子电信理学更多>>
相关作者:胡冬枝施斌赵登涛李炳宗张翔九更多>>
相关机构:复旦大学华南理工大学兰州大学中国科学院更多>>
相关期刊:《电子科技文摘》《半导体技术》《核技术》《电子材料快报》更多>>
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Co/C/Si(100)结构固相外延生长CoSi_2被引量:1
《Journal of Semiconductors》2003年第1期63-67,共5页屈新萍 徐蓓蕾 茹国平 李炳宗 W.Y.Cheung S.P.Wong Paul K.Chu 
国家自然科学基金 (批准号 :60 10 60 0 2 ) ;上海市教委资助;上海教育发展基金会曙光计划;中国教育部博士点基金;国家科委-比利时弗兰德合作资助项目~~
采用 Co/C/Si多层薄膜结构的中间层诱导固相外延方法在 Si(10 0 )上制备外延 Co Si2 薄膜 .用四探针电阻仪、XRD、AES、RBS等分析手段对该结构固相反应形成的薄膜的电学特性、组分、晶体结构等进行了表征 .结果表明 ,Co/C/Si多层结构经...
关键词:固相反应 固相外延 金属硅化物 二硅化钴 中间层诱导 
Si(001)斜切衬底上Ge量子点的固相外延生长被引量:3
《Journal of Semiconductors》2002年第6期604-608,共5页胡冬枝 赵登涛 蒋伟荣 施斌 顾骁骁 张翔九 蒋最敏 
研究了 Si(0 0 1)面偏 [110 ]方向 6°斜切衬底上 Ge量子点的固相外延生长 .实验结果表明 ,在 Si(0 0 1) 6°斜切衬底上固相外延生长 Ge量子点的最佳退火温度为 6 4 0℃ ,在斜切衬底上成岛生长的临界厚度低于在 Si(0 0 1)衬底成岛生长...
关键词:外延生长 量子点 固相外延  硅斜切衬底 
固相外延CoSi_2薄膜作为扩散源形成n^+p浅结技术研究被引量:1
《Journal of Semiconductors》1996年第4期305-312,共8页房华 李炳宗 吴卫军 邵凯 姜国宝 顾志光 黄维宁 刘平 周祖尧 朱剑豪 
国家自然科学基金
通过As+离子注入到由TiN/Co/Ti/Si多层结构因相反应得到的外延CoSi2层中,利用外延硅化物作为扩散源(ESADS),形成了0.1μm的浅n+p结.研究了Cosi2外延薄膜离子注入非晶化后的再结晶特性、注入...
关键词:CoSi薄膜 固相外延生长 n+p结 半导体材料 
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