固相外延

作品数:25被引量:20H指数:3
导出分析报告
相关领域:电子电信更多>>
相关作者:李炳宗徐蓓蕾屈新萍茹国平胡冬枝更多>>
相关机构:中国科学院复旦大学华南理工大学中芯国际集成电路制造(北京)有限公司更多>>
相关期刊:《微电子学》《电子材料快报》《发光学报》《物理学报》更多>>
相关基金:国家自然科学基金上海市教育发展基金国家教育部博士点基金上海市教委科研基金更多>>
-

检索结果分析

结果分析中...
条 记 录,以下是1-10
视图:
排序:
固相外延生长法制备ZSM-5@Silicalite-1分子筛及其CO_(2)加氢耦合甲苯烷基化反应的影响
《燃料化学学报(中英文)》2024年第8期1115-1130,共16页贾艺敏 牛鹏宇 贾丽涛 林明桂 郭荷芹 肖勇 侯博 李德宝 
山西省重点研发计划(202102090301003)资助。
本研究采用固相法在ZSM-5表面外延生长Silicalite-1,制备出ZSM-5@Silicalite-1分子筛。同时制备高活性氧化物ZnZrOx,并与ZSM-5@Silicalite-1物理混合组成ZnZrOx/ZSM-5@Silicalite-1双功能催化剂,研究了CO_(2)加氢耦合甲苯烷基化催化性...
关键词:MFI型分子筛 外延生长 对二甲苯 固相法 CO_(2)加氢耦合甲苯烷基化 
接触电阻技术研究新进展被引量:1
《微电子学》2018年第6期791-797,805,共8页张楠 张静 魏淑华 王艳蓉 王文武 闫江 
国家自然科学基金资助项目(61674003)
从肖特基势垒高度、有效掺杂浓度和有效质量的优化和控制等方面,对接触电阻的最新技术进行了详细的总结。首先,分析了插入界面层的金属-绝缘体-半导体接触结构、界面钝化、杂质分凝技术对于降低肖特基势垒高度的效果。其次,讨论了原位...
关键词:肖特基势垒高度 原位掺杂 固相外延 激光退火 
Si_(0.2)Ge_(0.8)/Ge异质结的离子束辅助固相外延生长
《微纳电子技术》2011年第12期797-801,共5页徐文婷 肖清华 常青 屠海令 
国家自然科学基金资助项目(60706001);国家科技重大专项资助项目(2008ZX02401)
采用离子束辅助固相外延技术,在Ge基片上制备了SiGe/Ge异质结。利用高分辨透射电镜(HRTEM)、能量散射谱(EDX)、喇曼散射谱对SiGe/Ge异质结的形貌、成分和结构等物理性质进行了表征。还利用上述分析手段研究了固相外延温度对SiGe/Ge异质...
关键词:SiGe/Ge 异质结 离子注入 固相外延 缺陷 
退火条件对Sn量子点生长和红外光学性质的影响
《材料导报》2010年第14期19-21,36,共4页赵希磊 梁勇 张忠锁 黄高鹏 王科范 
教育部"博士生创新计划"同步辐射研究生创新基金资助项目(20090655S);河南大学省部共建项目(SBGJ090514)
首次采用固相外延生长技术在Si(001)表面直接生长Sn量子点,并应用原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)和同步辐射傅里叶红外光谱(FTIR)研究了退火条件对量子点样品的表面形貌、结晶性和红外光学性质的影响。AFM结果表明,随着退火温度的...
关键词:Sn量子点 固相外延 同步辐射红外光谱 
改性的薄SOS膜CMOS器件辐射加固特性
《Journal of Semiconductors》2005年第7期1406-1411,共6页刘忠立 李宁 高见头 于芳 
利用注硅固相外延的方法对0.2μmSOS薄硅膜材料进行改性,并制作了单管pMOSFET,nMOSFET及54HC04电路.测量了单管的迁移率,并对样品进行了瞬态辐射实验和总剂量辐射实验,发现用改性后的SOS薄硅膜材料制作的电路,不仅具有同标准0.5μmSOS...
关键词:固相外延 改性 SOS薄硅膜 CMOS器件 
Co/a-GeSi/Ti/Si多层薄膜固相反应外延生长CoSi_2薄膜
《固体电子学研究与进展》2003年第2期149-154,共6页徐蓓蕾 屈新萍 韩永召 茹国平 李炳宗 W.Y.Cheung S.P.Wong Paul K.Chu 
上海市教委资助;上海教育发展基金会曙光计划资助;中国教育部博士点基金资助 ;国家自然科学基金 ( NSFC-60 10 60 0 2;NSFC-60 2 0 60 0 2 )资助
研究了在 Co/Ti/Si结构中加入非晶 Ge Si层对 Co Si2 /Si异质固相外延的影响 ,用离子束溅射方法在Si衬底上制备 Co/Ge Si/Ti/Si结构多层薄膜 ,通过快速热退火使多层薄膜发生固相反应。采用四探针电阻仪、AES、XRD、RBS等方法进行测试。...
关键词:金属硅化物 固相外延 扩散阻挡层 晶格失配 Co/Ti/Si结构 钴钛硅化合物 
Co/C/Si(100)结构固相外延生长CoSi_2被引量:1
《Journal of Semiconductors》2003年第1期63-67,共5页屈新萍 徐蓓蕾 茹国平 李炳宗 W.Y.Cheung S.P.Wong Paul K.Chu 
国家自然科学基金 (批准号 :60 10 60 0 2 ) ;上海市教委资助;上海教育发展基金会曙光计划;中国教育部博士点基金;国家科委-比利时弗兰德合作资助项目~~
采用 Co/C/Si多层薄膜结构的中间层诱导固相外延方法在 Si(10 0 )上制备外延 Co Si2 薄膜 .用四探针电阻仪、XRD、AES、RBS等分析手段对该结构固相反应形成的薄膜的电学特性、组分、晶体结构等进行了表征 .结果表明 ,Co/C/Si多层结构经...
关键词:固相反应 固相外延 金属硅化物 二硅化钴 中间层诱导 
Si(001)斜切衬底上Ge量子点的固相外延生长被引量:3
《Journal of Semiconductors》2002年第6期604-608,共5页胡冬枝 赵登涛 蒋伟荣 施斌 顾骁骁 张翔九 蒋最敏 
研究了 Si(0 0 1)面偏 [110 ]方向 6°斜切衬底上 Ge量子点的固相外延生长 .实验结果表明 ,在 Si(0 0 1) 6°斜切衬底上固相外延生长 Ge量子点的最佳退火温度为 6 4 0℃ ,在斜切衬底上成岛生长的临界厚度低于在 Si(0 0 1)衬底成岛生长...
关键词:外延生长 量子点 固相外延  硅斜切衬底 
离子注入和固相外延制备Si_(1-x-y)Ge_xC_y半导体薄膜
《物理学报》2002年第10期2340-2343,共4页刘雪芹 王印月 甄聪棉 张静 杨映虎 郭永平 
国家自然科学基金 (批准号 :698760 17)资助课题~~
用等离子体增强化学气相淀积 (PECVD)生长了 2 0 0nm的SiGe薄膜 ,然后将C离子注入SiGe层 ,经两步热退火处理制备了Si1 -x -yGexCy 三元合金半导体薄膜 .应用卢瑟福背散射 (RBS) ,傅里叶变换红外光谱 (FTIR)和高分辨率x射线衍射 (HRXRD)...
关键词:半导体薄膜 Si1-x-yGexCy薄膜 离子注入 固相外延 制备工艺 PECVD 硅锗碳三元合金薄膜 
预注入对Si_(1-x)C_x合金形成的影响被引量:1
《物理学报》2001年第7期1329-1333,共5页王引书 李晋闽 王衍斌 王玉田 孙国胜 林兰英 
室温下在单晶Si中注入 (0 6— 1 5 )at%的C原子 ,部分样品在C离子注入之前在其中注入2 9Si+ 离子产生损伤 ,然后在相同条件下利用高温退火固相外延了Si1 -xCx 合金 ,研究了预注入对Si1 -xCx 合金形成的影响 .如果注入C离子的剂量小于引...
关键词:离子注入 固相外延 Si1-xCx合金 损伤 形成机理 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部