测试调度

作品数：46被引量：152H指数：7
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3D SoC并行测试中TAM调度优化设计被引量：1
《计算机工程与应用》2020年第4期31-36,共6页吴欣舟 方芳 王伟 
国家自然科学基金（No.61474035,No.61204046,No.61432004,No.61306049）;国家自然科学基金青年基金项目（No.61106037）
提出了一种在功耗及测试并行性约束下三维片上系统(System on Chip,SoC)绑定中测试阶段并行测试的优化策略,通过最大限度地利用测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)资源,大大减少了测试时间,降低了测试成本。在3D SoC的测试过程中...
关键词：三维片上系统(3D SoC) 测试访问机制(TAM) 测试外壳 测试调度 测试时间 
超深亚微米工艺下基于热量分区的SoC热感知测试调度方法
《计算机应用研究》2015年第12期3682-3684,3696,共4页焦铬 李浪 刘辉 邹祎 
湖南省科技厅科技计划资助项目(2013FJ3077);湖南省教育厅资助科研项目(12C1084);衡阳市科技计划资助项目(2012KJ31);湖南省"十二五"重点建设学科资助项目(湘教发[2011]76号)
在超深亚微米时代,功耗不但直接影响芯片的封装测试成本,而且过高的功耗将导致芯片热量的增加,影响着芯片的可靠性,为了保证芯片测试的热安全,基于热感知的测试调度方法越来越受到重视。综合考虑超深亚微米工艺下,漏电功耗、空闲芯核唤...
关键词：超深亚微米 片上系统 热量分区 热感知测试调度 
深亚微米工艺下SoC多点温度低功耗测试调度方法被引量：2
《电子测量技术》2015年第7期67-70,共4页焦铬 范双南 
在深亚微米技术实现的片上系统中,为了解决由于制程变异引起的温度不确定性,提出了一种多点温度测量的SoC低功耗测试调度方法。该方法采取在芯片中内建多个温度传感器,通过内建的温度传感器来感应温度,在SoC的核心部位进行多点采集,取...
关键词：深亚微米工艺 多点温度 片上系统 低功耗测试调度 
热感知的SoC蚁群优化测试调度方法被引量：7
《仪器仪表学报》2014年第4期948-953,共6页崔小乐 熊志天 程伟 李崇仁 
国家自然科学基金(61006032);广东省自然科学基金(s2011010001234);深圳市科技计划(JCYJ2012061414572639;ZYC2011051703564A)资助项目
由于在压缩测试时间和降低测试温度方面的作用,SoC测试调度技术引起了研究者的广泛关注。研究发现,芯片的功耗剖面与热剖面并不一致,而过多的热量才是导致芯片失效的直接原因,因此通过峰值功耗或平均功耗的约束来进行测试优化调度并不...
关键词：热感知 测试调度 蚁群优化 
一种峰值功耗约束下的SoC蚁群测试调度算法被引量：2
《微电子学与计算机》2011年第7期5-8,共4页崔小乐 程伟 李崇仁 
国家自然科学基金项目(61006032);广东省科技计划项目(2009A011604001;2009B090600084);深圳市科技计划项目(JC200903160361A;08CXY-02)
基于扫描链技术的SoC芯片测试可产生比正常使用模式下更大的功耗,这将会对器件可靠性产生不利影响,故在测试时需要将芯片测试功耗控制在允许峰值功耗之下.文中采用蚁群优化思路设计SoC测试调度算法,用于在峰值功耗和TAM总线最大宽度约...
关键词：测试调度 测试功耗 蚁群优化 
基于量子粒子群算法的SOC测试调度优化研究被引量：28
《仪器仪表学报》2011年第1期113-119,共7页许川佩 胡红波 
国家自然科学基金(No.60766001);广西"新世纪十百千人才工程"专项(No.2007213)资金资助
在基于IP核复用技术的SOC(system-on-ch ip,SOC)芯片中,测试资源的稀缺性限制了IP核并行测试的能力,导致了SOC测试耗时过长的局面。同时SOC测试时必须满足一定的功耗约束,否则会造成测试芯片的损坏。针对SOC测试时间与测试功耗协同优化...
关键词：SOC IP核 测试调度 量子粒子群算法 
可切换式TAM结构的快速SoC测试方法
《西安电子科技大学学报》2009年第1期38-42,共5页谢元斌 高海霞 潘伟涛 
陕西省自然科学基础研究计划资助(2005F30);西安应用材料创新基金资助(XA-AM-200814)
由于现有TAM(Test Access Mechanism)结构中,被测IP(Intellectual Property)核都是固定地连接在某些TAM总线上,经常会导致测试资源浪费,故提出了可切换式TAM结构.某些IP核通过切换电路挂接在多组TAM上,可以使用多组TAM来完成对一个IP核...
关键词：测试访问机制 测试调度 测试用时 0-1规划 
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