测试矢量

作品数：58被引量：67H指数：6
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基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究被引量：3
《仪表技术与传感器》2017年第1期134-138,共5页夏继军 
研究了基于时钟的数字电路可重构内建自测试(BIST)设计。BIST不通过ATE设备加载测试矢量和检测测试响应,通过内置激励电路和响应分析电路来实现。在很大程度上降低了对ATE带宽的要求。当前电路集成度高,整体测试时可观察性和可控制性不...
关键词：数字电路 内建自测试 测试矢量 故障模拟仿真 
基于免疫粒子群文化算法的数字电路故障诊断被引量：3
《火力与指挥控制》2016年第8期192-195,共4页申延强 韩华亭 
为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将...
关键词：数字电路 测试生成 测试矢量 免疫粒子群算法 文化算法 
一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法
《微电子学与计算机》2014年第6期72-76,共5页崔小乐 李红 史新明 程作霖 
国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639;ZYC201105170354A)
在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG...
关键词：静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 
基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量生成
《微电子学》2012年第5期737-740,共4页王承 刘治国 叶韵 梁海浪 何进 
国家自然科学基金资助项目(60936005);深圳市杰出青年项目(JC201005280670A)
提出一种基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量自动生成方法。根据待测电路可利用的测试点,进行测试点优选和模糊元器件确定,实现可测性分析;应用灵敏度分析,实现多频测试矢量自动生成。实验结果表明,该方法对模拟电路测试矢量生成非...
关键词：可测性分析 模拟电路 多频测试矢量 故障诊断 
基于伪穷举测试法的雷达板级电路故障诊断被引量：7
《测试技术学报》2011年第4期360-365,共6页邹明虎 姜树和 闫军 陈力 
在新型雷达装备的板级电路中,组合逻辑电路占据了相当大的比例,为了快速诊断板级组合逻辑电路故障,将伪穷举测试法用于故障诊断;在介绍穷举测试法基础上,详细阐述了伪穷举测试法的原理及分块方法;利用伪穷举测试法确定了某型雷达板级组...
关键词：伪穷举测试法 雷达 板级组合逻辑电路 测试矢量 故障诊断 
集成电路测试系统通道板的研究与设计被引量：2
《电子测量技术》2011年第1期124-127,共4页项赵嘉 李颜 张侃谕 
介绍了一种基于FPGA的集成电路测试系统测试通道板,通过FPGA实现矢量格式化器与PCI接口电路,提高了板卡的集成度和测试矢量调制的速度。通过多路时钟脉冲,对测试矢量进行调制。在Quartus Ⅱ环境下,使用Verilog语言实现矢量格式化器中各...
关键词：测试矢量 PCI FPGA 格式化器 引脚电子 
集成电路功能验证方法
《科技传播》2010年第23期137-137,140,共2页席筱颖 
本文首先介绍几种传统的验证方法并剖析其优缺点,然后针对基于仿真的功能验证引入提高验证效率的方法。从生成高质量测试向量和检测验证程度的完备性两方面介绍如何提高验证效率。
关键词：功能验证 基于覆盖率的方法 测试矢量 
数字集成电路测试技术应用被引量：8
《微处理机》2008年第4期36-37,40,共3页谭伟 
介绍了数字集成电路测试系统的基本构成,当今超大规模数字集成电路测试的基本原理,并在掌握这些测试理论的基础之上针对不同类型的测试系统利用其各自测试语言进行编程的测试技术应用,同时也提出了集成电路测试技术面临的挑战和未来发...
关键词：集成电路测试 测试矢量 测试方法 
基于SOPC的便携式边界扫描故障诊断仪
《电子产品世界》2007年第7期150-151,共2页彭立章 杨春玲 
边界扫描技术的核心思想是在器件内部的核心逻辑与I/O引脚之间插入的边界扫描单元，它在芯片正常工作时是“透明”的，不影响电路板的正常工作。各边界扫描单元以串行方式连接成扫描链，通过扫描输入端将测试矢量以串行扫描的方式输入...
关键词：边界扫描单元 故障诊断仪 SOPC 便携式 I/O引脚 边界扫描技术 测试矢量 电路系统 
数字集成电路测试矢量的生成
《电子与封装》2007年第4期18-20,48,共4页刘伟 
电路的日益复杂和集成度的不断提高,使测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。文章主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而大大提高了故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在Quart...
关键词：随机测试序列 硬件描述语言Verilog 同余伪随机序列 线性反馈移位寄存器 
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