田海燕

作品数：5被引量：7H指数：2
导出分析报告
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文主题：抗辐射场区存储阵列EEPROM漏电更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《固体电子学研究与进展》《电子与封装》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-5
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
一种抗单粒子瞬态辐射效应的自刷新三模冗余触发器被引量：4
《电子与封装》2018年第9期36-38,41,共4页曹靓 田海燕 王栋 
数字集成电路在宇宙空间中会受到单粒子效应的影响,随着半导体工艺的进步,器件尺寸不断缩小,单粒子效应也越发显著。单粒子瞬态脉冲对电路的影响随着电路工作主频越来越高也变得越发严重,甚至可能使电路功能完全失效。在自刷新三模冗余...
关键词：单粒子瞬态脉冲 抗辐射加固 触发器 三模冗余 
数字电路抗单粒子瞬态效应的最小尺寸设计
《电子与封装》2015年第4期20-22,共3页田海燕 周晓彬 陈菊 
随着体硅CMOS电路工艺的不断缩小,数字电路在空间中使用时受到的单粒子效应越发严重。特别是高频电路,单粒子瞬态效应会使电路功能完全失效。提出了一种基于电路尺寸计算的抗单粒子瞬态效应的设计方法,主要思想是通过辐射对电路造成的...
关键词：辐射效应 抗辐射加固 数字电路 单粒子瞬态效应 
0.18 μm SOI工艺抗辐照触发器性能研究被引量：1
《固体电子学研究与进展》2014年第5期460-464,共5页周昕杰 于宗光 田海燕 陈嘉鹏 
国家"十二五"微电子预研基金资助项目(5130802XXXX)
随着集成电路制造工艺尺寸不断减小、集成度不断提高,集成电路在太空环境应用中更容易受到单粒子辐照效应的影响,可靠性问题越发严重。特别是对高频数字电路而言,单粒子翻转效应(SEU)及单粒子瞬态扰动(SET)会导致数据软错误。虽然以往...
关键词：辐照效应 辐射加固 触发器 绝缘体上硅工艺 
体硅集成电路版图抗辐射加固设计技术研究被引量：2
《电子与封装》2013年第9期26-30,共5页田海燕 胡永强 
辐射效应是电路在太空等领域应用时遇到的首要问题,常常会引起电路出错或失效。为了满足抗辐射电路设计的需求,必须提高电路抗辐射效应的能力。文章分析了辐射效应对器件产生的影响。针对电路在辐射环境中应用时存在的问题,文章从版图...
关键词：辐射效应 版图设计 可靠性 
EEPROM单元抗辐射版图设计技术
《电子与封装》2010年第5期22-24,29,共4页赵力 田海燕 周昕杰 
随着EEPROM存储器件在太空和军事领域的广泛应用,国际上对EEPROM抗辐射性能的研究越来越多。为了达到提高存储器件抗辐射性能的目的,文章从版图设计的角度出发,首先分析了辐射对器件造成的影响,接下来分别介绍了基于FLOTOX和SONOS工艺的...
关键词：EEPROM单元 抗辐射 版图加固 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部