电路测试系统

作品数：84被引量：145H指数：7
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基于STM32的简易电路特性测试系统设计
《绵阳师范学院学报》2022年第11期20-26,共7页秦绍明 程登良 
湖北省重点实验室开放基金项目(ZDK1201409);湖北汽车工业学院研究生教育质量工程项目(Y202109)。
设计了一种基于STM32单片机控制的简易电路特性测试系统.被测电路测试板是分压式共射极三极管放大电路.测试系统采用外部DDS模块AD9851作为信号源,为被测电路提供0~1 V幅值、1 Hz~180 MHz频率、步长为1 Hz的标准正弦测试信号.该测试信...
关键词：STM32 电路测试系统 放大电路 幅频特性曲线 
国产超大规模集成电路测试系统综合试验验证方法被引量：3
《计算机测量与控制》2022年第8期277-282,共6页闫丽琴 冯建呈 王占选 殷晔 刘莹 李小龙 
为全面验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标和性能,提出测试系统的一种综合试验验证方法,根据测试系统不同的验证阶段,分别从系统仪器技术指标测试试验验证、系统软硬件功能测试试验验证和系统集成电路测试能力试验验证3个阶段...
关键词：国产超大规模集成电路测试系统 综合试验验证方法 技术指标测试 软硬件功能测试 测试能力试验验证 
基于典型集成电路的自动测试演示验证研究被引量：2
《计算机测量与控制》2022年第8期251-255,302,共6页闫丽琴 王占选 冯建呈 闫静 任朝旭 
当前国产超大规模集成电路测试设备由于技术指标、工作可靠性、制造成本等诸多因素,在国内尚未得到大规模的市场应用;从集成电路的测试需求出发,给出了自研超大规模集成电路测试系统的总体架构组成,重点开展了基于典型集成电路的自动测...
关键词：超大规模集成电路测试系统 演示验证 测试准备 测试开发 迭代调试 静态存储器测试 
集成电路测试系统高速数字通道校准装置架构设计被引量：2
《舰船电子工程》2022年第2期161-164,共4页胡勇 黄俊杰 姚俊杰 
数字通道测试速率的不断提升以及单块板卡的集成度越来越高是当今大规模集成电路(SOC)测试系统发展的趋势,由于测试系统高速数字通道校准的特殊性以及缺少对高速数字通道校准方法及技术规范的研究,当前高速数字通道普遍缺乏可靠的量值...
关键词：集成电路测试系统 高速 校准 
数字集成电路测试系统的分析与应用被引量：2
《电子技术与软件工程》2020年第23期75-76,共2页王宇实 
本文重点针对数字集成电路测试系统应用情况进行了分析,首先阐述了数字集成电路测试系统的基本构成情况;然后重点针对数字集成电路测试系统测试技术进行了研究,主要是从直流以及功能参数着手进行探讨的,关于直流参数测试进行分析时又划...
关键词：数字集成电路测试系统 基本构成 直流参数测试 
集成电路测试系统的测量分析MSA方法被引量：1
《集成电路应用》2020年第6期30-31,共2页李建超 钱威成 
江苏省科技企业科技创新课题项目。
分析表明,测试质量和测试系统本身的一些特性有着非常密切的关系。要想使得测试结果的精确性更高,就必须对测试系统本身进行详细的分析与判定。必须做MSA,但是由于MSA的分析方法相对来说比较复杂。由于集成电路本身的一些特性,其测试系...
关键词：集成电路制造 测试系统 MSA分析 
集成电路测试系统MSA方法探索
《电子质量》2018年第12期128-131,共4页涂继云 傅铮翔 何燕青 
集成电路的测试过程是对产品功能、参数评估的重要环节,测试质量直接影响到对产品质量的判断。而测试质量又与测试系统本身的"五性"密切相关,所以要求对测试系统本身进行分析判定,即必须做MSA。但由于MSA的"五性"分析方法相对复杂,以及...
关键词：MSA GRR(重复性、再现性) 偏倚 线性 稳定性 校正球 
基于ARM的数字集成电路测试系统的研究被引量：5
《中国新技术新产品》2018年第9期21-22,共2页张建文 
为了丰富数字集成电路测试系统功能,实现上位机数据独立传送,本文采用ARM控制器,设计一套数字集成电路测试系统。首先,对ARM处理器进行简要概述,其次,明确设计目标,提出系统设计方案,最后,制定系统调试步骤,并对其调试结果做出分析。调...
关键词：ARM 数字集成电路测试 软件架构 
集成电路测试系统时间参数测试能力比对被引量：5
《计量技术》2017年第7期24-27,共4页张继平 于利红 赵昭 王酣 
本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对，对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方案的制定、比对结果的评价方法等关键内容进行了详细描述，为集成电路测试系统时间参数的量值溯源提供了...
关键词：集成电路测试系统 时间参数 被测件 比对实施方案 
集成电路测试系统微小微电子参量校准技术研究
《通讯世界》2016年第8期225-225,共1页尹梦宾 
利用集成电路测试系统,可以完成小于1m V和1m A的直流电压和电流的测试。而想要确保测量值准确可靠,还要使用相应的校准技术进行微小微电子参量的校准。基于这种认识,本文对微小微电子参量特性展开了分析,然后对其校准技术展开了研究,...
关键词：集成电路测试系统 微小微电子 参量校准 
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