测试矢量

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一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法
《微电子学与计算机》2014年第6期72-76,共5页崔小乐 李红 史新明 程作霖 
国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639;ZYC201105170354A)
在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG...
关键词：静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 
集成电路测试系统通道板的研究与设计被引量：2
《电子测量技术》2011年第1期124-127,共4页项赵嘉 李颜 张侃谕 
介绍了一种基于FPGA的集成电路测试系统测试通道板,通过FPGA实现矢量格式化器与PCI接口电路,提高了板卡的集成度和测试矢量调制的速度。通过多路时钟脉冲,对测试矢量进行调制。在Quartus Ⅱ环境下,使用Verilog语言实现矢量格式化器中各...
关键词：测试矢量 PCI FPGA 格式化器 引脚电子 
集成电路功能验证方法
《科技传播》2010年第23期137-137,140,共2页席筱颖 
本文首先介绍几种传统的验证方法并剖析其优缺点,然后针对基于仿真的功能验证引入提高验证效率的方法。从生成高质量测试向量和检测验证程度的完备性两方面介绍如何提高验证效率。
关键词：功能验证 基于覆盖率的方法 测试矢量 
数字集成电路测试技术应用被引量：8
《微处理机》2008年第4期36-37,40,共3页谭伟 
介绍了数字集成电路测试系统的基本构成,当今超大规模数字集成电路测试的基本原理,并在掌握这些测试理论的基础之上针对不同类型的测试系统利用其各自测试语言进行编程的测试技术应用,同时也提出了集成电路测试技术面临的挑战和未来发...
关键词：集成电路测试 测试矢量 测试方法 
数字集成电路测试矢量的生成
《电子与封装》2007年第4期18-20,48,共4页刘伟 
电路的日益复杂和集成度的不断提高,使测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。文章主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而大大提高了故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在Quart...
关键词：随机测试序列 硬件描述语言Verilog 同余伪随机序列 线性反馈移位寄存器 
数字集成电路测试中测试矢量的生成
《世界电子元器件》2007年第2期80-82,共3页刘伟 刘建军 
电路的日益复杂和集成度的不断提高，测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成，并提出了改进其周期的办法，从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在Quar...
关键词：集成电路测试 测试矢量 集成电路设计 硬件描述语言 集成度 伪随机 
混合信号集成电路测试中的约束条件分析被引量：1
《仪器仪表学报》2003年第z2期68-69,共2页孙秀斌 陈光(礻禹) 
对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入。为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求。本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出...
关键词：混合信号集成电路 测试矢量 约 束 
时滞测试能量函数的局限性分析和改进模型
《四川大学学报（自然科学版）》2002年第2期252-256,共5页王勇 龙建忠 
四川大学青年基金
针对时滞测试能量函数 ,分析了它在无冒险强健测试矢量生成时存在局限性和表达式较复杂的不足 .在此基础上建立了无冒险条件下的时滞测试能量函数 。
关键词：时滞测试 测试生成算法 能量函数 无冒险强健测试矢量 数字集成电路 故障诊断 
ASIC设计中测试矢量产生与验证
《半导体技术》2001年第3期42-47,共6页居水荣 
介绍了ＡＳＩＣ设计过程中测试矢量的产生与验证步骤，包括激励编写规则、波形检查、测试矢量的获得以及测试矢量的验证。
关键词：专用集成电路设计 验证 测试矢量 激励 波形 
0.9μmASIC正向设计中的总体仿真及测试矢量产生被引量：2
《微电子技术》2000年第2期17-21,共5页居水荣 郑明 
给出了在以VHDL为硬件描述语言的 0 9μmCMOS标准单元正向设计中 ,在存在用户定制单元及ROM宏单元情况下的总体仿真方法 ,讨论了测试矢量的产生及验证。
关键词：总体仿真 测试矢量 正向设计 ASIC 集成电路 MOS 
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