云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- 模拟集成电路重点实验室基金(9140C090406120C09037)

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半导体器件贮存可靠性快速评价方法被引量：4: 《微电子学》2015年第3期387-390,共4页罗俊代天君刘华辉杨勇张振宇杨少华; 模拟集成电路重点实验室基金资助项目(9140C090406120C09037); 为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命...; 关键词：半导体器件加速寿命试验多贮存应力贮存可靠性

半导体器件老炼筛选试验设计被引量：4: 《微电子学》2014年第3期392-394,408,共4页罗俊陈世钗胡盛东刘凡赵胜雷陈浩然晏开华王媛; 模拟集成电路重点实验室基金资助项目(9140C090406120C09037); 老炼筛选试验是有效剔除内含固有工艺缺陷的半导体器件,以及保证半导体器件使用可靠性的重要途径。本文阐述了半导体器件早期失效的基本概念,并给出了半导体器件早期失效率的预计方法。在此基础上提出了半导体器件老炼筛选试验设计方法...; 关键词：半导体器件早期失效老炼筛选加速应力试验

基于泰勒展式的量化与反量化硬件设计: 《微电子学》2014年第2期202-205,共4页向洵陈世钗刘凡; 模拟集成电路重点实验室基金资助项目(9140C090406120C09037); 介绍了一种新的基于泰勒展式的量化与反量化硬件实现方法。该方法可广泛应用于多种音频的编解码系统,如MP3,AAC等。通过优化的方法,不仅能减少量化与反量化中数据存储区的大小,增加系数的准确性,还能减少计算系数时所需的运算量。与已...; 关键词：泰勒展式硬件设计量化反量化

半导体器件的长期贮存失效机理及加速模型被引量：6: 《微电子学》2013年第4期558-563,571,共7页罗俊向培胜赵胜雷王毅刘涛陈光炳; 模拟集成电路重点实验室基金资助项目(9140C090406120C09037); 加速应力试验是评价长期贮存一次性使用半导体器件贮存可靠性的最重要途径之一。针对半导体器件不同的失效机理,选择合理、准确的加速应力模型,是定量分析半导体器件贮存寿命的基础。介绍了半导体器件在长期贮存时的主要失效机理及其加...; 关键词：半导体器件长期贮存失效机理加速应力模型

VLSI CMOS模拟集成电路可靠性仿真设计技术被引量：2: 《微电子学》2013年第2期250-256,共7页许斌罗俊; 模拟集成电路重点实验室基金资助项目(9140C090406120C09037);民用航空预先研究资助项目(YG0901-3); 随着超大规模CMOS模拟集成电路工艺技术进入纳米阶段,模拟集成电路面临着日益严峻的可靠性挑战,可靠性仿真设计技术已经成为提升电路固有可靠性的重要途径。对现有的模拟集成电路可靠性仿真设计的文献资料进行了总结,探讨了集成电路可...; 关键词：超大规模集成电路模拟集成电路纳米CMOS 可靠性设计自愈模拟电路

集成电路圆片级可靠性测试被引量：4: 《微电子学》2013年第1期143-147,共5页秦国林许斌罗俊; 模拟集成电路重点实验室基金资助项目(9140C090406120C09037);民用航空预先研究资助项目(YG0901-3); 在集成电路制造厂的工艺监控体系中引入可靠性监控对于控制产品的可靠性十分重要。圆片级可靠性测试技术通过对集成电路产品的工艺过程进行可靠性检测,能够为集成电路制造工艺提供及时的可靠性信息反馈。圆片级可靠性测试通常是采用高...; 关键词：圆片级可靠性集成电路制造热载流子注入电迁移

电子元器件加速寿命试验的挑战与对策被引量：5: 《微电子学》2013年第1期148-152,共5页许斌; 模拟集成电路重点实验室基金资助项目(9140C090406120C09037);民用航空预先研究资助项目(YG0901-3); 加速寿命试验是评价和提升高可靠长寿命电子元器件长期工作可靠性的有效方法。详细介绍了电子元器件加速寿命试验方案设计和实施中需要考虑的主要问题;通过一个实例,说明了不充分的加速寿命试验最终可能在现场应用中引起严重的事故;探...; 关键词：高可靠性电子元器件加速寿命试验可靠性评价

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