内建自测试技术

作品数：11被引量：16H指数：2
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逻辑内建自测试技术进展综述
《集成技术》2024年第1期44-61,共18页金敏 向东 
逻辑内建自测试(logic buit-in self-test,LBIST)是一种可测试性设计技术,利用芯片、板级或系统上的部分电路测试数字逻辑电路本身。LBIST对于许多应用来说至关重要,尤其是国防、航空航天、自动驾驶等生命和任务关键型的应用。这些应用...
关键词：逻辑内建自测试 伪随机序列产生器 多输入特征寄存器 确定性自测试 可测试性设计 
基于边界扫描的内建自测试技术及其应用
《中国科技期刊数据库 工业A》2019年第6期143-143,145,共2页朱卓盛 甘宏海 
本文主要探讨了基于边界扫描内建自测试技术应用的相关问题。文章首先从两个方面分析了基于边界扫描内建自测试技术应用的必要性;然后从内建自测试控制器、测试向量产生方案以及测试响应方案三个方面分析了基于边界扫描内建自测试技术...
关键词：边界扫描 内建自测试技术 应用 
组合电路内建自测试技术的研究被引量：1
《电子质量》2008年第12期3-7,共5页杨兴 胡正伟 
随着集成电路技术的发展,可测性设计在电路设计中占有越来越重要的地位,内建自测试作为可测性设计的一种重要方法也越来越受到关注。文中首先介绍了内建自测试的实现原理,在此基础上以八位行波进位加法器为例,详细介绍了组合电路内建自...
关键词：内建自测试 可测性设计 行波进位加法器 组合电路 
存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用被引量：1
《计算机工程》2008年第B09期122-124,共3页殷弼君 黄伟平 
针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试。
关键词：可测性设计 存储器内建自测试 双端口寄存器堆文件 
互连内建自测试技术的原理与实现被引量：1
《微计算机信息》2008年第5期268-270,共3页虞美兰 丁琳 
芯片间的互连速率已经达到GHz量级,相比较于低速互连,高速互连的测试遇到了新的挑战。本文探讨了高速互连测试的难点,传统互连测试方法的不足,进而介绍了互连内建自测试(IBIST)的结构以及方法,最后给出IBIST在FPGA中的一种实现。
关键词：高速互连 互连测试 内建自测试 
基于软件内建自测试的模板和基准程序设计被引量：6
《同济大学学报（自然科学版）》2002年第10期1159-1163,共5页凌良合 徐拾义 
国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 2 9;6 98730 30 )
论述了软件内建自测试项目中“模板”模块的设计方法 .利用硬件测试中所使用的基准电路的思想 ,研究并开发了一种基准程序 .使用这种基准程序 ,可以较为方便地对所生成的测试用例进行测试 .最后给出了一个基准程序实例 .
关键词：内建自测试技术 模板 基准程序 软件测试 基准电路 程序设计 
软硬件测试的一致性被引量：7
《同济大学学报（自然科学版）》2002年第10期1186-1189,共4页刘穆进 徐拾义 
国家自然科学基金资助项目 ( 6 98730 30 ;6 0 1730 2 9)
讨论了软硬件测试的一致性 ,列举了软硬件测试中相似的测试方法 ,最后基于一致性的概念并借助硬件可测性设计BIST(build -in -self-test)技术提出一种新的软件可测性方法 ,称为BISTSDFT(softwaredesign -for-testability) .BISTSDFT为...
关键词：内建自测试技术 软件测试 硬件测试 可测性设计 测试方法 一致性 
基于BIT技术的车载测图仪故障测试
《测绘信息与工程》2001年第2期45-47,共3页涂一新 韩建中 
通过对车载测图仪进行故障自动测试设计 ,使其故障诊断效果更加明显 ,维修性得到增强 ,可用度得到提高。
关键词：内建自测试技术 可靠性 维修性 故障诊断 车载测图仪 BIT 
测量理论与测试方法
《电子科技文摘》2001年第4期81-81,共1页
0106325嵌入式系统的在线自测试技术[刊]/刘建都//微电子技术.—2000,28(6).—46～50(E)嵌入式系统必须满足用户对其越来越高的安全性和可靠性的要求,作者首先审视了用于测试数字系统故障的各种在线可测试技术,然后重点讨论了一种将被...
关键词：嵌入式系统 内建自测试技术 在线可测试 在线测试技术 微电子技术 可靠性 系统故障 安全性 测试方法 测量理论 
基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成被引量：1
《计算机学报》2001年第4期411-419,共9页李兆麟 叶以正 毛志刚 
针对基于多扫描链的内建自测试技术 ,提出了一种测试向量生成方法 .该方法用一个线性反馈移位寄存器 (L FSR)作为伪随机测试向量生成器 ,同时给所有扫描链输入测试向量 ,并通过构造具有最小相关度的多扫描链来克服扫描链间的相关性对故...
关键词：内建自测试 多扫描链 逻辑电路 测试向量生成 
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