测试矢量

作品数：58被引量：67H指数：6
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基于ATE的SoC协议测试方法研究被引量：2
《集成电路应用》2018年第11期18-21,30,共5页王华 
电子元器件共性科研项目(1707WK0006)
面对当今复杂SoC器件,开发ATE测试解决方案变成一项越来越困难的任务。测试要求已经从器件参数测试、逻辑功能测试转移到了包括调制、协议测试等在内的系统级测试,从而增加测试支出成本和程序开发时间。讨论通过基于ATE测试系统Smart RD...
关键词：SOC 接口协议 测试矢量 自动测试系统 
基于免疫粒子群文化算法的数字电路故障诊断被引量：3
《火力与指挥控制》2016年第8期192-195,共4页申延强 韩华亭 
为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将...
关键词：数字电路 测试生成 测试矢量 免疫粒子群算法 文化算法 
一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法
《微电子学与计算机》2014年第6期72-76,共5页崔小乐 李红 史新明 程作霖 
国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639;ZYC201105170354A)
在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG...
关键词：静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 
基于多配置LFSR的测试生成结构设计被引量：2
《计算机工程与科学》2014年第5期814-820,共7页李鹏 颜学龙 孙元 
针对内建自测试技术中传统的测试生成故障覆盖率过低、硬件开销过大等缺点,提出了一种多配置LFSR的混合测试矢量生成结构,结构利用矩阵理论先后对随机性矢量和确定性矢量进行反馈网络的配置;针对确定性矢量的生成,提出了一种反馈配置解...
关键词：内建自测试 混合测试矢量 多配置LFSR 配置向量优化 
基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究被引量：1
《微电子学与计算机》2013年第10期144-148,152,共6页李鹏 颜学龙 
针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题,提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案.该方案先借助Atalanta测试矢量生成工具,针对不同的被测电路生成故障覆盖率较高的测试矢量,再利用插入单跳变测试矢量...
关键词：内建自测试 低功耗测试矢量 故障覆盖率 可配置线性反馈移位寄存器 
确定性测试矢量生成的低功耗设计
《电子器件》2013年第5期612-617,共6页李鹏 颜学龙 孙元 
在组合电路内建自测试过程中,为了保证在获得较高故障覆盖率的条件下,减少测试功耗,提出了一种确定性低功耗测试矢量的生成结构,该结构利用可配置反馈网络的LFSR作为确定性矢量生成器,并结合单翻转矢量插入逻辑的时钟复用原理,使确定性...
关键词：内建自测试 故障覆盖率 确定性测试矢量 测试功耗 可配置LFSR 
集成电路功能验证方法
《科技传播》2010年第23期137-137,140,共2页席筱颖 
本文首先介绍几种传统的验证方法并剖析其优缺点,然后针对基于仿真的功能验证引入提高验证效率的方法。从生成高质量测试向量和检测验证程度的完备性两方面介绍如何提高验证效率。
关键词：功能验证 基于覆盖率的方法 测试矢量 
基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成技术
《电子技术应用》2010年第9期104-107,共4页刘建军 李铁军 邹立明 
提出了一种基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成方法,它是在折叠计数器确定模式的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,通过选定的存储折叠距离来控制测试模式,使得产生的测试矢量之间实现伪单跳变。由于是在确定模式基础上进行的研究,...
关键词：低功耗设计 折叠矢量 伪单跳变 确定模式 种子 
数字集成电路测试技术应用被引量：8
《微处理机》2008年第4期36-37,40,共3页谭伟 
介绍了数字集成电路测试系统的基本构成,当今超大规模数字集成电路测试的基本原理,并在掌握这些测试理论的基础之上针对不同类型的测试系统利用其各自测试语言进行编程的测试技术应用,同时也提出了集成电路测试技术面临的挑战和未来发...
关键词：集成电路测试 测试矢量 测试方法 
基于SOPC的便携式边界扫描故障诊断仪
《电子产品世界》2007年第7期150-151,共2页彭立章 杨春玲 
边界扫描技术的核心思想是在器件内部的核心逻辑与I/O引脚之间插入的边界扫描单元，它在芯片正常工作时是“透明”的，不影响电路板的正常工作。各边界扫描单元以串行方式连接成扫描链，通过扫描输入端将测试矢量以串行扫描的方式输入...
关键词：边界扫描单元 故障诊断仪 SOPC 便携式 I/O引脚 边界扫描技术 测试矢量 电路系统 
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