国家自然科学基金(61204111)

作品数：9被引量：6H指数：2
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一种基于梯度信息的SEM图像重建方法被引量：2
《计算机科学》2016年第2期297-301,共5页毛项迪 史峥 
国家自然科学基金:面向28-14nm的高空间分辨率工艺偏差在线检测关键技术研究(61204111)资助
针对集成电路制造过程中由扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)产生的灰度图像二值化问题,提出一种利用图像边缘的梯度信息、通过统计重建SEM图像的方法。用Otsu方法分析SEM图像的噪声组成,通过滤波去噪过程,用Kirsch...
关键词：SEM图像 梯度信息 KIRSCH算子 统计 二值化 
HL-TLS:支持热点的线程级猜测编译实现
《计算机工程》2015年第11期77-83,共7页金跃 李春强 尚云海 卢永江 
国家自然科学基金资助项目(61204111);"核高基"重大专项(2010ZX01030-001-001-006)
猜测并行化编译,即线程级猜测(TLS)编译,可将原来顺序运行的程序并行化。但由于猜测数据的不确定性引起的数据管理开销过大,以及猜测线程失败引起的线程回滚开销,使得并行后的执行性能较低。针对上述问题,提出一种HL-TLS并行化编译优化...
关键词：并行计算 多线程 猜测执行 线程级猜测并行 热点循环 动态转换执行机制 
基于Trace合并和寄存器分配的Dalvik优化
《计算机工程》2014年第10期61-65,70,共6页余超君 李春强 尚云海 张培勇 
国家自然科学基金资助项目(61204111);"核高基"重大专项(2010ZX01030-001-001-002)
Dalvik虚拟机作为Android系统上运行所有应用程序的基础,其性能瓶颈一直制约着Android系统的用户体验。通过研究Android系统中的Dalvik架构,分析其解释器和JIT模块的工作原理,发现热Trace选择过程中短Trace编译损耗大以及即时编译过程...
关键词：DALVIK虚拟机 JIT技术 性能优化 Trace合并 寄存器分配 生命周期 
用于光刻系统仿真的多边形处理算法
《传感器与微系统》2014年第9期124-127,共4页吕楠 史峥 罗凯升 耿臻 
国家自然科学基金资助项目(61204111)
为提高光刻仿真效率,通过对光刻原理进行研究,提出了2种多边形处理算法,将掩模上的多边形图案进行切分优化,将其划分成若干矩形或三角形。在Linux环境下应用C语言设计出一个完整的光刻仿真系统,设计的具体光学参数为:光源波长为193nm,...
关键词：传感器 多边形切分 光刻仿真 光学邻近效应 部分相干系数 
基于边界扩张的点对点布线新算法
《计算机工程》2014年第5期299-303,共5页廖海涛 史峥 张腾 
国家自然科学基金资助项目(61204111)
在超大规模集成电路设计中，全局布线是非常重要的步骤。工业界普遍采用经典的迷宫算法及其改进算法解决全局布线问题。随着工艺节点的减小，传统迷宫算法复杂度高的缺点越来越明显。针对传统迷宫算法的复杂度会随着布线规模的扩大而迅...
关键词：超大规模集成电路 全局布线 迷宫算法 点对点布线 边界扩张 自由节点 
考虑缺陷率模型的多项目晶圆布图规划算法被引量：1
《计算机工程》2014年第4期258-261,268,共5页张腾 史峥 廖海涛 
国家自然科学基金资助项目(61204111)
针对随机缺陷会降低多项目晶圆实际产出的问题,提出一种新的多项目晶圆布图规划算法。通过在布图规划中引入缺陷率模型的方法,增加芯片产量的裕量,降低因随机缺陷造成的产量损失。同时优化模拟退火流程,使得在布图尺寸约束条件下,布图...
关键词：多项目晶圆 布图规划 模拟退火算法 代价函数 缺陷率模型 布图尺寸约束 
用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程
《计算机工程》2014年第2期314-316,共3页刘得金 史峥 胡龙跃 
国家自然科学基金资助项目"面向28-14nm的高空间分辨率工艺偏差在线检测关键技术研究"(61204111)
在工艺开发包的验证过程中,需要手动地在版图编辑器中对参数化单元进行实例化和摆放绕线,由此产生大量测试芯片。为此,提出一种用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程,采用软件接口产生Skill脚本和工艺开发包交互,以获取工艺开发包...
关键词：工艺开发包 测试芯片 参数化单元 实验数据设计 可制造性设计 电子设计自动化 
可寻址测试芯片测试结构自动分配算法研究被引量：1
《机电工程》2013年第9期1147-1152,共6页邵康鹏 史峥 张培勇 
国家自然科学基金资助项目(61204111)
为了缓解由于可寻址测试芯片自动化设计方法的缺失所带来的设计效率低下、设计稳定性不足等问题,针对可寻址测试芯片设计过程中的测试结构分配环节,将线性规划应用到测试结构的自动分配算法中。通过整理现有的手动分配测试结构的方法,...
关键词：可寻址测试芯片 分配算法 线性规划 
高效率集成电路测试芯片设计方法被引量：2
《计算机工程与应用》2013年第11期54-57,共4页胡龙跃 史峥 刘得金 邵康鹏 
国家自然科学基金(No.61204111)
对生成测试芯片效率进行研究,提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期,降低了设计难度。依据该方法,开发了一套针对工艺开发包的测试芯片,实验结果验证了其高效性。
关键词：超大规模集成电路 测试芯片 开尔文结构 工艺开发包 组件描述格式 
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