云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- XTEM

XTEM: 作品数：10被引量：2H指数：1; 导出分析报告; 相关领域：电子电信金属学及工艺更多>>; 相关作者：许晓磊黑祖昆顾卓明林成鲁王亮更多>>; 相关机构：中国科学院大连海事大学中国科学院上海冶金研究所大连海运学院更多>>; 相关期刊：《原子核物理评论》《红外与毫米波学报》《真空与低温》《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》更多>>; 相关基金：国家自然科学基金中央高校基本科研业务费专项资金甘肃省自然科学基金更多>>

1 MeV Xe离子辐照对4H-SiC肖特基二极管的性能影响研究被引量：1: 《真空与低温》2021年第6期601-607,共7页茆邦耀刘建德汤金金尹晋超刘贵鹏赵桂娟; 国家自然科学基金(61874108);甘肃省自然科学基金(20JR5RA287);兰州大学中央高校基本科研业务费专项资金(lzujbky-2021-58)。; 离子辐照会影响半导体器件的性能,进而使得器件在空间辐射等特定环境条件下的工作寿命和可靠性退化。研究了经过1 MeVXe离子辐照后4H-SiCSBD电学性能的变化及其原因。采用SRIM软件模拟了不同能量Xe离子辐照对4H-SiCSBD组成材料的影响,...; 关键词：Xe离子辐照 4H-SIC 肖特基二极管 XTEM SRIM

B和H离子顺次注入单晶Si引起的缺陷及其热演变（英文）: 《原子核物理评论》2013年第4期471-476,共6页张蓓张鹏王军朱飞曹兴忠王宝义刘昌龙; National Natural Science Foundation of China(10975107)~~; 室温下将130 keV,5×1014cm 2B离子和55 keV,1×1016cm 2H离子单独或顺次注入到单晶Si中,采用横截面试样透射电子显微镜(XTEM)和慢正电子湮没技术(SPAT)研究了离子注入引起的微观缺陷的产生及其热演变。XTEM观测结果显示,B和H离子顺次...; 关键词：单晶Si B和H离子注入 H板层缺陷 XTEM SPAT

Fabrication of thick BOX SOI by Smart-cut technology: 《Nuclear Science and Techniques》2003年第2期115-118,共4页WU Yan-Jun, ZHANG Miao, AN Zheng-Hua, LIN Cheng-Lu(State Key Laboratory of Functional Materials for Informatics, Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology,the Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200050); Supported by the National Natural Science Foundation of China(No.69906005)and the Shanghai Youth Foundation(No.01 QMH1403); A SOI material with thick BOX (2.2 μm) was successfully fabricated using the Smart-cut technology. The thick BOX SOI microstructures were investigated by high resolution cross-sectional transmission electron microsco...; 关键词：灵活切割技术微观结构截面透射电子显微镜 XTEM 电学特性绝缘硅片 SOI

XTEM STUDY ON ION PLATED STAINLESS STEEL MULTI-LAYER FILMS: 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》1999年第5期962-967,共6页Z.M. Gu Shanghai Maritime University, Shanghai 200135, China; In this paper, the cross sectional microstructure and crystal structure of ion plated multi layer films of stainless steel (1Cr18Ni9Ti ) were studied by cross sectional transmission electron microscopy (XTEM). The re...; 关键词：stainless steel XTEM multi layer films ion plating

基体组织结构对离子镀不锈钢膜组织的影响: 《理化检验（物理分册）》1999年第3期109-110,共2页王亮许晓磊于志伟王天贵; 应用XTEM技术及XRD观察了不同基体材料表面上离子镀ICr18Ni9Ti不锈钢膜的生长形貌及相结构.结果表明不同结构的基体材料对膜层组织结构有重要影响,在低碳钢表面首先形成单相bCC结构,而在奥氏体不锈钢表面则先形成fcc结构.随膜层厚度的增...; 关键词：离子镀显微组织 XTEM 不锈钢膜组织

不锈钢多层膜的XTEM研究: 《理化检验（物理分册）》1997年第12期10-13,共4页顾卓明; 利用透射电镜对离子镀的不锈钢(1Crl8Ni9Ti)多层膜的横截面显微组织与结构进行了研究。结果表明,离子镀不锈钢多层膜为细晶粒的奥氏体和铁素体双相钢膜层;膜层的横截面生长组织可分为细等轴晶、细柱状晶和粗柱状晶三个生长区。多层膜中...; 关键词：多层膜不锈钢 XTEM 离子镀显微组织

低温电镀铁层的XTEM研究: 《电子显微学报》1996年第6期511-511,共1页许晓磊王亮扈心坦黑祖昆; 低温电镀铁层的ＸＴＥＭ研究许晓磊王亮扈心坦黑祖昆（大连海事大学，大连１１６０２４）低温电镀铁广泛用于修复受磨损及腐蚀的零部件。镀层与基体的结合强度可达３５．６ｋｇ／ｍｍ２。表面硬度根据要求可达ＨＶ０．１５００—７００...; 关键词：低温电镀铁层 XTEM 镀铁层

离子镀铝青铜膜的XTEM研究被引量：1: 《金属学报》1993年第8期B367-B370,共4页许晓磊王亮顾卓明黑祖昆; 本文利用透射电镜对离子镀铝青铜膜进行横截面显微组织研究结果表明:整个膜层分为细等轴晶、细纤维状及柱状晶三种不同形态的生长区并且柱状晶主要以孪晶方式生长膜中存在NiAIl Cu_9Al_4合金相。; 关键词：离子镀铝青铜膜显微组织 XTEM

MOVPE生长GaAs/Al_xGa_(1-x)As超晶格及其TEM表征: 《红外与毫米波学报》1992年第2期139-144,共6页徐现刚黄柏标任红文刘士文蒋民华; 国家自然科学基金; 报道用金属有机汽相外延技术(MOVPE)生长GaAs/Al_xGa_(1-x)As超晶格结构材料及其光电器件应用,用横断面透射电子显微术(XTEM)表征外延层结构.在自电光效应光学双稳态器件(SEED)中,超晶格层-层之间界面清晰,厚度均匀,周期性完整.对某些...; 关键词：MOVPE XTEM 半导体砷化镓

离子注入形成SOI材料的XTEM分析: 《电子显微学报》1990年第3期190-190,共1页倪如山林成鲁; 近几年来,SOI(silicon on Insulator)材料因用于制备抗辐照、高速CMOS电路及三维集成电路等受到人们越来越多的关注。在各种SOI技术中,离子注入形成SOI材料有其独到的优点,制备工艺简单方便,可获得高质量的表层单晶硅。本文以XTEM研究...; 关键词：离子注入 XTEM 单晶硅膜

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