GE组分分布

作品数:11被引量:11H指数:2
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高性能锗硅异质结器件击穿特性的研究
《微电子学》2017年第1期118-121,共4页陈繁 谭开洲 陈振中 陈谱望 张静 崔伟 
模拟集成电路重点实验室基金资助项目(0C09YJTJ1501)
对高频下的SiGe HBT器件击穿特性进行了研究。借助TCAD仿真工具,分析了影响器件击穿特性的基区Ge分布与集电区掺杂浓度超结结构。在3种不同Ge分布下,仿真结果表明,基区Ge的均匀分布有利于提高击穿电压;同时将超结结构引入集电区后,SiGe ...
关键词:GE组分分布 锗硅/锗硅碳 击穿电压 异质结双极晶体管 掺杂特性 超结结构 
宽温区高热稳定性SiGe HBT的基区优化设计
《北京工业大学学报》2015年第5期686-692,共7页付强 张万荣 金冬月 赵彦晓 张良浩 
国家自然科学基金资助项目(61006059);北京市自然科学基金资助项目(4142007);北京市教委科技发展计划项目(KM200910005001)
为了提高SiGe异质结双极型晶体管(heterojunction bipolar transistors,HBTs)电流增益和特征频率温度热稳定性,首先研究基区杂质浓度分布对基区Ge组分分布为矩形分布的SiGe HBT电流增益和特征频率温度敏感性的影响,基区峰值浓度位置逐...
关键词:SiGe异质结双极型晶体管(HBTs) 温度敏感性 杂质浓度分布 GE组分分布 
一种提高SiGe HBT器件电学特性的Ge组分分布被引量:1
《微电子学》2014年第4期527-530,共4页张志华 刘玉奎 谭开洲 崔伟 申均 张静 
国家部委基础研究资助项目(Y61398)
介绍了一种提高SiGe HBT器件电学特性的基区Ge组分分布方式。这种优化的Ge分布模型在靠近发射极与集电极处为均匀分布,中间为梯度分布。借助于TCAD仿真工具,在基区Ge组分总量不变的条件下,相比于传统的Ge分布和其他文献中的Ge分布,该Ge...
关键词:SIGE HBT Ge组分 厄尔利电压 击穿电压 
不同基区Ge组分分布对SiGe HBT特性的影响被引量:3
《微电子学》2013年第6期859-862,866,共5页张志华 刘玉奎 谭开洲 崔伟 申均 张静 
国家部委基础研究资助项目(Y61398)
研究了传统基区Ge组分分布(矩形分布、三角形分布、梯形分布)在210K~410K范围内对SiGe HBT特性的影响。借助TCAD工具进行实验,结果表明,在Ge杂质总量相同的情况下,器件的电流增益β,厄尔利电压VA,截止频率fT随着温度升高而降低;靠近基...
关键词:SIGEHBT Ge组分 电流增益 厄尔利电压 截止频率 
新型宽温区高热稳定性微波功率SiGe异质结双极晶体管被引量:2
《物理学报》2013年第10期270-275,共6页鲁东 金冬月 张万荣 张瑜洁 付强 胡瑞心 高栋 张卿远 霍文娟 周孟龙 邵翔鹏 
国家自然科学基金(批准号:61006059;60776051;61006049);北京市自然科学基金(批准号:4082007);北京市优秀跨世纪人才基金(批准号:67002013200301);北京市教委科技发展计划(批准号:KM200710005015;KM200910005001);北京市属市管高等学校人才强教服务北京计划资助的课题~~
宽温区大电流下的热不稳定性严重制约着功率SiGe异质结双极晶体管(HBT)在射频和微波电路中的应用.为改善器件的热不稳定性,本文利用SILVACO TCAD建立的多指功率SiGe HBT模型,分析了器件纵向结构中基区Ge组分分布对微波功率SiGe HBT电学...
关键词:SIGE异质结双极晶体管 GE组分分布 发射极指间距渐变技术 热稳定性 
Ge组分分布对基区杂质非均匀分布的SiGe HBT温度特性的影响被引量:2
《物理学报》2013年第3期192-198,共7页张瑜洁 张万荣 金冬月 陈亮 付强 郭振杰 邢光辉 路志义 
国家自然科学基金(批准号:60776051;61006059;61006049);北京市自然科学基金(批准号:4082007);北京市优秀跨世纪人才基金(批准号:67002013200301);北京市教委科技发展计划(批准号:KM200710005015;KM200910005001);北京市属市管高等学校人才强教服务北京计划资助~~
众所周知,双极型晶体管的设计主要是基区的设计.一般而言,基区的杂质分布是非均匀的.本文首先研究了非均匀的杂质高斯分布对器件温度分布、增益和截止频率的温度特性的影响,发现增益和截止频率具有正温度系数,体内温度较高.随后研究了基...
关键词:SiGe异质结双极型晶体管 温度特性 基区杂质分布 GE组分分布 
基区Ge组分分布对SiGe HBTs热学特性的影响被引量:4
《物理学报》2012年第13期259-265,共7页赵昕 张万荣 金冬月 付强 陈亮 谢红云 张瑜洁 
国家自然科学基金(批准号:60776051;61006059;61006049);北京市自然科学基金(批准号:4082007);北京市教委科技发展计划(批准号:KM200710005015;KM200910005001);北京市优秀跨世纪人才基金(批准号:67002013200301);北京市属市管高等学校人才强教服务北京计划资助的课题~~
基区Ge组分的加入可以改善SiGe HBT的直流特性、频率特性和噪声特性,但Ge组分及其分布对HBT热学特性的影响报道还很少.本文利用SILVACO半导体器件仿真工具,建立了多指SiGe HBT模型,对基区具有不同Ge组分梯度结构的SiGe HBTs的热学特性...
关键词:SiGe异质结双极晶体管(HBT) 热学特性 GE组分分布 SILVACO 
基区不同Ge组分分布的多指SiGe HBT热学特性
《半导体技术》2012年第6期437-441,共5页张瑜洁 张万荣 金冬月 陈亮 付强 赵昕 
国家自然科学基金项目(60776051;61006044;61006059);模拟集成电路国家重点实验室基金项目(51439010804QT0101);北京市自然科学基金项目(4082007);北京市教委科技发展计划项目(KM200710005015;KM200910005001);北京市人才强教深化计划-服务北京创新人才培养项目(0020005412A001);北京市优秀跨世纪人才基金项目(67002013200301)
基于半导体器件仿真工具SILVACO TCAD,研究了三种常见的基区Ge组分分布(矩形、梯形和三角形)对多指功率SiGe异质结双极型晶体管(HBT)的热学特性的影响。结果表明,基区Ge组分为梯形分布和三角形分布的多指SiGe HBT的增益随温度变化比较平...
关键词:多指功率SiGe HBT GE组分分布 温度分布 热学特性 增益特性 
基区Ge组分分布对SiGe HBT热学特性的影响
《微电子学》2012年第2期289-292,296,共5页赵昕 张万荣 金冬月 谢红云 付强 张东晖 
北京工业大学研究生科技基金(ykj-2011-5108)
建立了SiGe HBT热电反馈模型,对基区Ge组分矩形分布、三角形分布和梯形分布的SiGe HBT的热特性进行研究。结果表明,在Ge总量一定的前提下,Ge组分为三角形和梯形分布结构的SiGe HBT峰值温度较低、温差较小,温度分布的均匀性优于Ge组分矩...
关键词:SIGE 异质结双极晶体管 热学特性 GE组分分布 
基区Ge组分分布对SiGe pnp HBT的影响
《电子器件》2006年第3期635-638,共4页李立 戴显英 朱永刚 胡辉勇 
国家模拟集成电路重点实验室基金资助(JS09.2.1.DZ01.);国家部委预先研究项目资助(41308060108)
采用SiGe异质结结构提高pnp晶体管的性能,重点研究了Ge组分在基区的三角形分布对晶体管电流增益β和特征频率fT的影响。三角形分布,又分为起点为零和不为零两种情况。同时为了消除集电结处SiGe异质结的价带势垒对空穴输运的影响,Ge组分...
关键词:SIGE PNP HBT Ge分布 电流增益β 特征频率fτ 
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