测试调度

作品数：46被引量：152H指数：7
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基于硅通孔绑定后三维芯片测试调度优化方案被引量：2
《计算机工程与科学》2017年第3期458-463,共6页聂牧 梁华国 卞景昌 倪天明 徐秀敏 黄正峰 
国家自然科学基金(61674048;61474036;61371025;61574052)
三维芯片(3D-SIC)通过硅通孔TSV技术实现电路的垂直互连,有效提高了系统集成度和整体性能。由于三维芯片测试中,用于测试的引脚数和TSV数目以及测试时功耗的限制都对测试时间有很大的影响,拟提出一种装箱问题思想的测试方案,针对每层只...
关键词：三维芯片 装箱问题 测试调度 “多塔” 
“多塔”3D-SIC的量子粒子群测试调度方法被引量：2
《计算机辅助设计与图形学学报》2017年第1期196-210,共15页崔小乐 王文明 缪旻 金玉丰 
国家"九七三"重点基础研究发展计划项目(2015CB057201);广东省自然科学基金(2015A030313147);广东省科技计划项目(2014B090913001);长城学者培养计划(CIT&TCD20150320)
针对"多塔"结构的3D堆叠集成电路(3D-SIC)测试耗时很长的问题,提出一种基于量子粒子群优化的测试调度方法,以缩短测试时间.首先,构造初始粒子群用以表示初始可行解,产生具有量子行为的新粒子,并更新粒子群;然后进行粒子群的迭代进化以...
关键词：“多塔” 3D-SIC 量子粒子群优化 测试调度 “部分堆” “终堆” 
超深亚微米工艺下基于热量分区的SoC热感知测试调度方法
《计算机应用研究》2015年第12期3682-3684,3696,共4页焦铬 李浪 刘辉 邹祎 
湖南省科技厅科技计划资助项目(2013FJ3077);湖南省教育厅资助科研项目(12C1084);衡阳市科技计划资助项目(2012KJ31);湖南省"十二五"重点建设学科资助项目(湘教发[2011]76号)
在超深亚微米时代,功耗不但直接影响芯片的封装测试成本,而且过高的功耗将导致芯片热量的增加,影响着芯片的可靠性,为了保证芯片测试的热安全,基于热感知的测试调度方法越来越受到重视。综合考虑超深亚微米工艺下,漏电功耗、空闲芯核唤...
关键词：超深亚微米 片上系统 热量分区 热感知测试调度 
一款用于多媒体处理的异构多核系统芯片的可测试性设计被引量：1
《中国科学：信息科学》2014年第10期1239-1252,共14页刘辉聪 孟海波 李华伟 邓家超 李晓维 
国家自然科学基金(批准号:61176040;61204047);国家重点基础研究发展计划(973)(批准号:2011CB302501)资助项目
随着集成电路工艺的发展,系统芯片(SoC)集成已成为超大规模集成电路的主流设计方法.SoC设计具有强调自顶向下设计、突出设计重用性、重视低功耗的特点,给集成电路的可测试性设计带来了严峻的挑战.本文针对一款用于多媒体处理的异构多核...
关键词：可测试性设计 测试访问机制 测试调度 片上时钟控制单元 存储器内建自测试 
功耗约束下的3D多核芯片芯核级测试调度算法被引量：11
《电子测量与仪器学报》2012年第7期591-596,共6页王伟 林卓伟 陈田 刘军 方芳 吴玺 
国家自然科学基金项目(No.61106037);国家高技术研究发展计划(863计划;No.2012AA011103);中央高校基本科研业务费专项资金资助;合肥工业大学研究生教改项目(YJG2010X10);合肥工业大学博士专项科研资助基金项目(No.2011HGBZ1285);计算机体系结构国家重点实验室开放课题(CARCH201101)
三维堆叠集成电路测试中的一个关键的挑战是在功耗约束下,在绑定前测试和绑定后测试中,协同优化测试应用时间和测试硬件开销。将传统的二维芯片的绑定前和绑定后测试调度方法运用于三维堆叠集成电路的测试调度会导致测试应用时间的延长...
关键词：测试调度 三维堆叠集成电路 测试结构 JTAG 过硅通孔 
基于遗传算法的IP核测试调度优化被引量：1
《计算机系统应用》2011年第8期181-183,共3页邬毅松 谈恩民 
国家自然基金项目(60861003)
测试调度能够很好的减少测试时间和降低测试成本。通过调度,SOC中尽可能多的IP核可以进行并行测试,然而过度的并行测试会引起功耗过高,对SOC产生不利影响。为了改善这个问题,考虑峰值功耗因素的限制,提出一种基于遗传算法的IP核测试调...
关键词：IP核 并行测试 遗传算法 测试调度 
基于量子粒子群算法的SOC测试调度优化研究被引量：28
《仪器仪表学报》2011年第1期113-119,共7页许川佩 胡红波 
国家自然科学基金(No.60766001);广西"新世纪十百千人才工程"专项(No.2007213)资金资助
在基于IP核复用技术的SOC(system-on-ch ip,SOC)芯片中,测试资源的稀缺性限制了IP核并行测试的能力,导致了SOC测试耗时过长的局面。同时SOC测试时必须满足一定的功耗约束,否则会造成测试芯片的损坏。针对SOC测试时间与测试功耗协同优化...
关键词：SOC IP核 测试调度 量子粒子群算法 
Wrapper扫描链均衡与系统芯片测试调度的联合优化算法被引量：4
《上海大学学报（自然科学版）》2009年第4期336-341,共6页王佳 张金艺 林峰 江燕辉 
上海市科委基金资助项目(08700741000);上海市重点学科建设资助项目(J50104);上海大学创新基金资助项目
提出用于均衡Wrapper扫描链的交换优化算法以及用于测试调度的局部最优算法,这两种算法依据测试总线空闲率(IBPTB)指标,可从IP层和系统顶层对系统芯片(SOC)测试时间实现联合优化,进而使SOC的测试时间大大降低.为了验证两种算法及其联合...
关键词：Wrapper扫描链均衡 测试调度 联合优化 
基于功耗约束的SOC测试调度研究被引量：4
《桂林电子科技大学学报》2009年第2期77-81,共5页许川佩 张婧 张民 吕广文 
国家自然科学基金项目(60266001);广西研究生创新项目(2008105950804M433)
通过研究SOC测试中满足功耗约束条件的测试规划问题,比较并总结了当前普遍使用的几种功耗约束的SOC测试调度算法。经过对功耗约束条件下SOC测试的现状和存在的基本问题,以及SOC测试期间由于测试功耗剧增而导致的安全可靠性问题进行了分...
关键词：SOC测试 功耗约束 测试调度 
一种基于遗传算法的SoC测试调度方法被引量：6
《仪器仪表学报》2007年第S1期15-17,43,共4页雷加 方刚 
广西省自然科学基金(0542050)资助项目
文章提出了一种基于遗传算法的SoC测试调度方法,通过该方法可以有效地优化测试总线的划分,合理地调度各个芯核以实现并发测试,能够有效的缩短芯核地测试时间。该算法把测试调度问题的可行解集用种群表示,从初始种群开始,按照适者生存、...
关键词：遗传算法 测试优化 测试调度 
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