邹巧云

作品数：9被引量：16H指数：3
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供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文主题：集成电路传输线脉冲晶圆协同分析光耦更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《混合微电子技术》《电子元器件与信息技术》《电子与封装》更多>>
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基于缺陷检测的多芯片塑封光耦器件开封方法被引量：4
《电子元器件与信息技术》2021年第1期3-5,共3页马勇 虞勇坚 解维坤 邹巧云 张凯虹 章慧彬 
塑封光耦器件主要用于电源隔离、信号转换、脉冲放大等领域。基于缺陷检测的需求,保持芯片、键合丝、基板等部位的原始状态是开封技术的重要指标。针对多芯片塑封光耦器件缺陷检测难的问题,为了避免开封对关键缺陷点的损伤,提出了一种...
关键词：多芯片 塑封 光耦 缺陷检测 开封方法 
军用裸芯片KGD筛选方法探讨被引量：3
《电子与封装》2018年第10期9-12,共4页虞勇坚 吕栋 邹巧云 冯佳 陆坚 
军用SIP、MCM、混合IC等先进封装产品对裸芯片的需求日益增大,选用通过可靠性筛选后的KGD是确保最终产品成品率和可靠性的有效保障。基于现有的国内外标准、检测设备和检验环境,针对KGD获取方式中的分立形态裸芯片,通过对单个芯片进行...
关键词：裸芯片 分立 KGD 筛选方法 
集成电路真伪辨识方法被引量：4
《电子与封装》2018年第8期5-8,共4页吕栋 虞勇坚 邹巧云 
随着电子产品的高度集成化,电子元器件不断更新换代,旧版本的集成电路逐步停产,加上国外公司的禁运等多种因素的影响,翻新、假冒和伪劣的集成电路越来越多,给电子产品和军用装备的可靠性带来很大的风险。按照从简单到复杂、从外部到内...
关键词：集成电路 真伪辨识 外观 打磨 
晶圆针测针痕异常问题分析和改善方法
《电子与封装》2018年第A01期76-80,共5页王菲 裴仁国 黄芝花 邹巧云 
介绍了集成电路晶圆针测经常出现的两种针痕异常问题。针对异常问题发生的原因、对测试的影响进行了探讨，并提出了针对这几种异常问题的改善方法。通过从人、机、料、法等方面采取措施来控制异常问题的发生，从而确保晶圆测试的良品率...
关键词：晶圆针测 针迹偏移 针迹过深 改善 
协同分析在集成电路失效定位中的应用探讨被引量：5
《电子与封装》2017年第8期36-40,48,共6页虞勇坚 邹巧云 吕栋 陆坚 
随着集成电路规模和制造工艺的发展,对失效电路进行失效点定位的难度也越来越大,单独依靠一种分析方法很难实现失效点定位。利用先进分析仪器设备,采用多种方法协同分析,成为针对大规模集成电路失效定位分析的必然选择。从有效实现失效...
关键词：集成电路 失效分析 协同分析 失效定位 
晶圆级传输线脉冲测试方法
《电子与封装》2015年第1期10-13,共4页邹巧云 姜汝栋 
随着晶圆测试技术的发展,晶圆级传输线脉冲(TLP)测试逐渐由封装级向晶圆级转移,晶圆级TLP测试的出现不仅降低了设计成本,同时大大缩短了ESD保护结构的评价周期。针对晶圆级TLP测试方法尚无标准可依的现实情况,结合理论推导过程,从线路...
关键词：传输线脉冲 测试方法 晶圆级 
基于三模冗余结构的自刷新寄存器设计被引量：2
《电子与封装》2014年第9期21-24,共4页陈钟鹏 邹巧云 施斌友 万书芹 
设计了一种带自刷新功能的寄存器,该寄存器采用两级数据锁存结构,在第二级锁存结构中设计了一个选择电路。该选择电路采用三选二机制,用于三模冗余结构中取代常用寄存器,选择数据来自三模冗余结构的三路输出。有两路值相同,输出结果为该...
关键词：单粒子效应 寄存器 辐照效应 辐照加固 
晶圆级传输线脉冲（TLP）测试方法探究
《混合微电子技术》2014年第3期68-72,共5页邹巧云 姜汝栋 
随着晶圆测试技术的发展，TLP测试逐渐由封装级向晶圆级转移，晶圆级TLP测试的出现不仅降低了设计的成本，同时大大缩短了ESD保护结构的评价周期。针对晶圆级TLP测试方法尚无标准可依的现实情况，本文结合理论推导过程，从线路搭建、设...
关键词：传输线脉冲 测试方法 晶圆级 
0.6μm SOI NMOS器件ESD性能分析及应用
《电子与封装》2011年第11期33-36,40,共5页罗静 胡永强 周毅 邹巧云 陈嘉鹏 
ESD设计是SOI电路设计技术的主要挑战之一,文章介绍了基于部分耗尽0.6μm SOI工艺所制备的常规SOI NMOS器件的ESD性能,以及采用改进方法后的SOI NMOS器件的优良ESD性能。通过采用100ns脉冲宽度的TLP设备对所设计的SOI NMOS器件的ESD性...
关键词：静电放电 SOINMOS GGNMOS gcNMOS 
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