国家自然科学基金(10435050)

作品数：14被引量：20H指数：2
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相关作者：王占山朱京涛崔明启陈玲燕张众更多>>
相关机构：同济大学中国科学院中国科学技术大学北京工商大学更多>>
相关期刊：《中国激光》《物理学报》《物理》《真空科学与技术学报》更多>>
相关主题：MAGNETRON_SPUTTERINGMULTILAYERS软X射线英文SUBSTRATES更多>>
相关领域：理学机械工程一般工业技术核科学技术更多>>
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Measurement of the polarization for soft X-ray magnetic circular dichroism at the BSRF beamline 4B7B
《Chinese Physics C》2013年第1期129-132,共4页郭志英 席识博 朱京涛 赵屹东 郑雷 洪才浩 唐坤 杨栋亮 崔明启 
Supported by National Natural Science Foundation of China(11075176, 10435050)
Three ultra-short-period W/B4C multilayers （1.244 nm, 1.235 nm and 1.034 nm） have been fabricated and used for polarization measurement at the 4BTB Beamline at the Beijing Synchrotron Radiation Facility （BSRF）. By...
关键词：polarization measurement MULTILAYERS soft X-ray magnetic circular dichroism （XMCD） 
Performance of a polarizer using synthetic mica crystal in the 12–25 nm wavelength range
《Chinese Physics C》2011年第5期509-513,共5页崔明启 陈凯 赵佳 孙立娟 席识博 嫣芬 
Supported by National Natural Science Foundation of China (10275078, 10435050)
To develop polarizer functioning in the extreme ultraviolet （EUV） and soft X-ray region, the polarization performance of synthetic mica has been investigated theoretically with a simulation code using Fresnel equati...
关键词：synchrotron radiation EUV synthetic mica polarization 
用傅里叶变换方法实现的纳米多层膜性能表征被引量：1
《中国激光》2009年第8期2158-2165,共8页蒋晖 徐敬 朱京涛 黄秋实 白亮 王晓强 王占山 陈玲燕 
国家自然科学基金(10435050,1067091,10675092);国家863计划(2006AA12Z139);上海市科学技术委员会基金(07DZ22302)资助课题
利用傅里叶变换(FFT)分析了纳米多层膜的X射线掠入射反射率测试曲线,模拟了各种制备和测试条件对多层膜结构参数测试结果的影响,检验了傅里叶变换方法的适用性和精确度。分析结果表明,相对于传统的反射曲线拟合方法,傅里叶变换方法具有...
关键词：薄膜 纳米多层膜 傅里叶变换 自相关函数 曲线拟合 界面 
全息光刻-离子束刻蚀制作磁性亚微米结构被引量：1
《真空科学与技术学报》2008年第6期493-497,共5页张自军 徐向东 刘颖 邱克强 付绍军 洪义麟 郭玉献 徐鹏寿 蔡建旺 
国家自然科学基金(No.10435050)资助项目
激光干涉制作亚微米尺寸磁性周期结构中,基底材料具有高反射率,由于垂直驻波的影响,光刻胶浮雕图形侧壁产生"束腰",本文将O2反应离子刻蚀引入到制作工艺中,对光刻胶图形进行修正,获得了很好的效果,具有工艺简单、可控性好等特点。以50n...
关键词：光刻胶灰化 全息光刻 垂直驻波 磁性微结构 
Intrinsic stress analysis of sputtered carbon film被引量：2
《Chinese Optics Letters》2008年第5期384-385,共2页刘丽琴 王占山 朱京涛 张众 谭默言 黄秋实 陈锐 徐敬 陈玲燕 
the National Natural Sci-ence Foundation of China (No.10435050,10675092,and 10675091);the"863"Project Plan (No.2006AA12Z139);the Program for New Century Excellent Talents in University (No.NCET-04-0376).
Intrinsic stresses of carbon films deposited by direct current （DC） magnetron sputtering were investigated. The bombardments of energetic particles during the growth of films were considered to be the main reason fo...
关键词：ARGON CARBON Inert gases Magnetron sputtering Stress relief SUBSTRATES 
基于多层膜偏振元件的软X射线磁光Faraday偏转测量
《物理学报》2008年第5期2860-2865,共6页鄢芬 崔明启 陈凯 孙立娟 席识博 周克瑾 郑雷 赵屹东 王占山 朱京涛 张众 赵佳 
国家自然科学基金(批准号:10275078,10435050)资助的课题~~
在北京同步辐射装置(BSRF)的3W1B软X射线光束线上利用自行研制的同步辐射软X射线综合偏振测量装置对Ni的M2,3边附近(60—70eV)进行了软X射线磁光(magneto-optical)法拉第效应(Faraday effect)的偏转测量,实验装置主要由起偏器,检偏器,...
关键词：软X射线 磁光Faraday效应 综合偏振测量装置 宽带多层膜 
用X射线反射测量法表征双层结构中低原子序数材料的特性(英文)被引量：8
《光学精密工程》2007年第12期1838-1843,共6页徐垚 王占山 徐敬 张众 王洪昌 朱京涛 王风丽 王蓓 秦树基 陈玲燕 
Supported by the National Natural Science Foundation of China( No 60378021 and 10435050);the Programfor New Century Excellent Talents in University(No NCET-04-0376)
介绍了用X射线反射测量术表征双层薄膜中低原子序数材料特性的方法。由于低原子序数材料的光学常数与Si基板材料的光学常数非常接近,用X射线反射法确定镀制在Si基板上的低原子序数材料膜层结构的变化十分困难,因此,提出了在镀制低原子...
关键词：X射线衍射仪 低原子序数材料 反射率测试 薄膜 
极紫外宽带Mo/Si非周期多层膜偏振光学元件(英文)被引量：4
《光学精密工程》2007年第12期1886-1893,共8页朱京涛 王占山 王洪昌 张众 王风丽 秦树基 陈玲燕 崔明启 赵屹东 孙丽娟 周洪军 霍同林 
Supported by the National Natural Science Foundation of China (No 60378021 and 10435050);the Programfor New Century Excellent Talents in University (No NCET-04-0376)
研究了极紫外宽带多层膜偏振光学元件,包括反射式检偏器与透射式相移片。基于Mo/Si非周期多层膜结构,采用解析与数值优化相结合的方法进行了多层膜的设计;采用磁控溅射技术制备了多层膜。利用X射线衍射仪对非周期多层膜的结构进行了表征...
关键词：偏振光学元件 多层膜 相移片 检偏器 极紫外 同步辐射 
北京同步辐射装置3W1B软X射线光束线偏振特性测量(英文)被引量：1
《高能物理与核物理》2007年第6期602-606,共5页朱杰 崔明启 孙立娟 王占山 郑雷 赵屹东 赵佳 周克瑾 陈凯 马陈燕 
国家自然科学基金(10275078,10435050)资助~~
应用自行研制的Mo/Si周期多层膜作为起偏器和检偏器的光学元件,测量了北京同步辐射装置3W1B束线的偏振状态．通过数据分析,得到了3W1B软X射线的有关偏振参数,在86—89eV能区经过起偏器后的偏振度超过98%,圆偏振分量介于1%—3%之间．
关键词：同步辐射 偏振测量 软X射线 
Investigation of nanometer-scale films using low angle Xray reflectivity analysis in IPOE被引量：1
《Optoelectronics Letters》2007年第2期88-90,共3页WANG Zhan-shan XU Yao WANG Hong-chang ZHU Jing-tao ZHANG Zhong WANG Feng-li CHEN Ling-yan 
This work was supported by the National Natural Science Foun-dation of China(10435050,60378021);the National 863-804Sustentation Fund(2006AA12Z139);the Program for New Cen-tury Excellent Talents in University(NCET-04-037);the RoyalSociety,London(NC/China/16660);Tongji University scien-tific fund.
The X-ray low angle reflectivity measurement is used to investigate single and bilayer films to determine the parameters of nanometer-scale structures,three effectual methods are presented by using X-ray reflectivity ...
关键词：IPOE 纳米级薄膜 X线反射率分析 多层结构 参数 
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