王国章

作品数：15被引量：29H指数：3
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供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文主题：FPGA系统芯片深亚微米现场可编程逻辑阵列SOC芯片更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《微电子学》《固体电子学研究与进展》《Journal of Semiconductors》《电子学报》更多>>
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一种用于FPGA配置的抗干扰维持电路被引量：4
《电子学报》2011年第5期1169-1173,共5页张惠国 王晓玲 唐玉兰 于宗光 王国章 
江苏省自然科学基金(No.BK2007026);广东省产学研合作引导项目(No.2009B090300416)
设计并实现了一种用于FPGA配置的抗干扰维持电路,针对基于SRAM的FPGA配置单元易受噪声影响丢失信息的问题,提出了电压不稳定、低压状态下配置信息的抗干扰维持方案.在设计高面积效率配置单元、分析噪声容限的基础上,得出配置单元静态噪...
关键词：可编程门阵列 静态存储器 低压维持 抗干扰 噪声容限 
SOC芯片DFT研究与设计
《电子与封装》2009年第1期28-31,45,共5页杨兵 魏敬和 王国章 虞致国 
文章首先介绍了SOC系统的DFT设计背景和DFT的各种测试机理,包括基于功能的总线测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的测试机理。然后以某专用SOC芯片为例提出了SOC电路的DFT系统构架...
关键词：系统芯片 边界扫描设计 存储器测试 扫描链 可测性设计 
一种用于FPGA的新型混合布线算法
《电子器件》2008年第2期432-435,440,共5页刘战 于宗光 顾晓峰 王国章 须自明 
布尔可满足性是计算机科学中最基础的问题之一,已经出现了包括著名的基于查找的SAT算法在内的各种算法。对于传统的一次布通一条线网的方法,基于布尔可满足性的算法有着独特的优点,例如:同步线网嵌入及可布通性确定。然而基于SAT的布线...
关键词：布尔可满足性 几何查找布线算法 可编程逻辑门阵列 
一种基于迷宫算法的有效FPGA布线方法被引量：2
《微计算机信息》2007年第17期207-208,167,共3页刘战 须自明 王国章 于宗光 
电子元件器件可靠性物理及其应用技术国防技术重点实验室基金(No.51433020105DZ6802)
在本篇论文中,我们介绍了在标准对称阵列(隔离岛状)现场可编程逻辑阵列结构下的一种基于迷宫布线算法的新型有效布线方法,Pathfinder。实验结果显示,相比普通的迷宫布线法,Pathfinder算法在布线时间上减少了90%。
关键词：隔离岛状 现场可编程逻辑阵列 迷宫布线算法 
用于SOC测试的一种有效的BIST方法
《电子器件》2007年第4期1152-1154,共3页须自明 刘战 王国章 于宗光 
电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室基金资助(51433020105DZ6802)
为了提高SOC芯片的可测性和可靠性,我们提出了一种SOC测试的BIST技术的实现方案.针对某所自行研制的数字模拟混合信号SOC芯片,我们使用了不同的可测性技术.比如对模拟模块使用改进的BIST方法,对嵌入式存储器使用了MBIST技术.一系列的测...
关键词：SYSTEM-ON-A-CHIP BIST 
3-D寄生电容的HOC-ADI提取方法
《电子器件》2007年第4期1208-1210,共3页刘战 须自明 王国章 于宗光 
电子元件器件可靠性物理及其应用技术国防技术重点实验室基金资助(51433020105DZ6801)
采用ADI与高阶紧致差分相结合的方法计算3-D寄生电容.数值计算表明,这种方法可以降低方程的迭代次数约40%,并明显减少方程的求解时间.
关键词：ADI 高阶紧致差分 寄生电容 
GMRES方法在3-D寄生电容计算中的应用
《电子器件》2007年第4期1223-1225,共3页王国章 刘战 高校良 须自明 于宗光 
随着VLSI向深亚微米发展、集成电路密度不断提高,互连延迟成了加快器件速度的一个限制因素,由于互连延迟是由金属连线间的电阻及电容所产生的,因此萃取寄生参数的工作更显重要.文章使用GMRES方法求解了3-D寄生电容分析的复系数线性方程...
关键词：深亚微米 GMRES SOR 寄生电容 
一种测试SRAM失效的新型March算法被引量：2
《微电子学》2007年第3期330-333,共4页须自明 王国章 刘战 于宗光 
电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室基金资助项目(51433020105DZ6802)
随着工艺偏差的日益增加,新的失效机制也在亚100 nm工艺的CMOS电路里出现了,特别是SRAM单元。SRAM单元的故障由晶体管阈值电压Vt差异引起,而Vt差异又是由工艺偏差造成的。对于这类SRAM失效机制,需要把它映射成逻辑故障模型,并为检测出...
关键词：失效机制 March测试序列 工艺偏差 SRAM 
一种用于FPGA布局的模拟退火算法被引量：1
《微计算机信息》2007年第05Z期184-186,共3页刘战 须自明 王国章 于宗光 
电子元件器件可靠性物理及其应用技术国防技术重点实验室基金(No.51433020105DZ6802)
在本篇论文中,我们介绍了在标准对称阵列(隔离岛状)现场可编程逻辑阵列结构下的一种有效的布局方法,模拟退火算法。实验结果显示,相比普通的布局算法,模拟退火算法在布局时间上减少了20%。
关键词：隔离岛状 现场可编程逻辑阵列 模拟退火算法 
基于e语言的描述综合和验证的统一框架
《固体电子学研究与进展》2007年第1期104-108,共5页须自明 王国章 刘战 于宗光 
电子元器件可靠性物理及其应用技术科技重点实验室基金赞助(51433020105DZ6801)
首先给出使用面向对象方式对硬件进行描述和验证的统一框架。这个统一的框架涉及了一种面向对象的语言:e语言以及实时环境Specman EliteTM。然后介绍了使用e语言进行硬件模块描述、综合和验证,最后通过例子得出基于e语言进行构建统一框...
关键词：E语言 描述 综合 验证 
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