郑宏超

作品数：10被引量：22H指数：3
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发文主题：单粒子单粒子效应单粒子翻转主控计算机同步电路更多>>
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65nm反相器单粒子瞬态脉宽分布的多峰值现象被引量：3
《电子技术应用》2017年第1期20-23,共4页刘家齐 赵元富 王亮 郑宏超 舒磊 李同德 
基于65 nm工艺下单粒子瞬态脉宽检测电路,在重离子辐照下,对目标单元单粒子瞬态脉宽进行了测试。针对实验结果中单粒子瞬态脉宽分布出现多峰的现象进行了分析。详细对比了反相器多峰现象与LET值、温度、阈值电压间的关系。通过TCAD仿真...
关键词：单粒子瞬态 多峰现象 65 nm反相器 
多电压集成电路的瞬时剂量率辐射效应试验研究被引量：3
《电子技术应用》2017年第1期6-9,共4页李同德 赵元富 王亮 郑宏超 舒磊 刘家齐 于春青 
瞬时剂量率辐射会对集成电路产生不同程度的影响,产生扰动、翻转、闩锁甚至烧毁等问题。针对一款具有两种电源电压的0.18μm SRAM电路,利用"强光一号"装置进行了瞬时γ剂量率辐射试验,研究了SRAM电路的内核电压和IO电压受扰动后的恢复时...
关键词：瞬时剂量率 多电压 γ脉冲 扰动 
基于激光实验探测32位微处理器的敏感体深度
《微电子学与计算机》2015年第6期171-175,共5页于春青 范隆 岳素格 陈茂鑫 郑宏超 
为了更好地设置不同错误率预估模型的参数以及为抗辐射加固设计提供指导,以微处理器为例,针对敏感体深度这一参数进行了探测.利用脉冲激光局域辐照以及聚焦深度可调的优势对180nm体硅CMOS工艺的32位微处理器的缓存(cache)区域、寄存器堆...
关键词：微处理器 敏感体深度 激光背部辐照 错误率预估 
一种多模式SRAM单粒子试验系统的设计与实现被引量：1
《微电子学与计算机》2014年第9期92-95,共4页郑宏超 岳素格 董攀 陈莉明 陈茂鑫 
提出了一种基于NIOS II的异步SRAM单粒子效应检测系统,用于评估抗辐射加固SRAM电路的抗单粒子效应能力.该检测系统可以对异步SRAM进行四种工作模式下的动态和静态检测,利用该检测系统在重离子加速器上对一款异步SRAM进行了单粒子效应试...
关键词：存储器 单粒子翻转 嵌入式系统 可编程逻辑门阵列 
微处理器高低速模式下的单粒子功能错误分析被引量：2
《微电子学与计算机》2014年第7期18-21,共4页郑宏超 岳素格 董攀 陈莉明 陈茂鑫 
对一款国产抗辐射加固SPARC-V8微处理器进行了高低速两种模式下的单粒子试验.试验获得了单粒子功能中断的阈值和饱和错误截面,并预估了GEO轨道在轨错误率.经过比较分析,国产微处理器与国外同类产品具有相同量级的抗单粒子指标,微处理器...
关键词：单粒子效应 微处理器 单粒子功能错误 单粒子翻转 
Spacewire通讯路由器单粒子功能中断测试系统研究
《微电子学与计算机》2014年第4期173-176,共4页董攀 陈莉明 范隆 岳素格 郑宏超 王兴友 
随着大规模集成电路在航天器中的广泛应用,器件单粒子效应的抗辐射性能成为了航天器在太空中安全运行的关键性因素.对超大规模集成电路抗辐射性能的评价显得越来越重要.针对一款Spacewire通讯路由器,根据其工作原理,搭建一套单粒子功能...
关键词：SPACEWIRE CPU 单粒子功能中断 
DA器件的瞬态效应研究被引量：1
《微电子学与计算机》2013年第6期105-108,共4页陈莉明 范隆 岳素格 郑宏超 董攀 马建华 杜守刚 
主要对国内某款抗辐射加固DA器件进行了单粒子瞬态效应的试验研究.被测器件在加速器上采用不同的粒子进行辐照,同时在真空罐外利用一款高速示波器对DA器件的输出端进行监测,一旦发现瞬态脉冲即捕获并保存.试验发现随着辐照粒子LET的升高...
关键词：DA 示波器 单粒子瞬态 脉宽 
SRAM型FPGA单粒子效应敏感性分析研究被引量：5
《核电子学与探测技术》2012年第3期272-278,共7页杜守刚 范隆 岳素格 郑宏超 于春青 董攀 杨晓飞 贾海涛 
首先描述了典型的SRAM型FPGA内部通常包含的三类基本资源,并分析三类基本资源内部不同功能的电路单元对单粒子效应的敏感性,归纳出Virtex系列SRAM型FPGA中6种类型的单粒子效应敏感结构单元,并得出这些敏感结构单元的单粒子翻转、单粒子...
关键词：SRAM型FPGA 单粒子效应敏感性 单粒子翻转 单粒子功能中断 单粒子闩锁 
一种高温单粒子效应测试系统的设计与实现被引量：3
《微电子学与计算机》2011年第12期17-20,24,共5页董攀 范隆 岳素格 杜守刚 郑宏超 
航天器件在空间环境中存在着单粒子效应,根据研究可知高温会提升单粒子效应的敏感性,因此为了更好地评估器件的抗辐射性能,有必要建立一套高温单粒子效应测试系统.通过建立高温单粒子效应测试系统,选择ASIC和SRAM进行高温测试实验,完成...
关键词：单粒子效应 线性能量传输 可编程逻辑 大规模集成电路 
基于库替换技术的单粒子效应故障注入仿真被引量：6
《微电子学与计算机》2009年第7期60-64,共5页郑宏超 范隆 岳素格 刘立全 
提出了一种新的故障注入仿真方法,研发了故障单元库替换仿真工艺库技术,与以往方法相比,该技术可以方便快速地在目标电路的所有节点上注入故障来模拟SEE,因而更贴近实际物理过程,仿真结果可以得到所有节点的敏感度信息并评价电路总体抗...
关键词：故障注入 FPGA仿真 SEE 
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