MARCH

作品数：732被引量：435H指数：8
导出分析报告
相关领域：经济管理医药卫生更多>>
相关作者：张小波杨文英焦慧芳李汉炎张德江更多>>
相关机构：中日友好医院电子科技大学桂林电子科技大学西安电子科技大学更多>>
相关期刊：更多>>
相关基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划中国博士后科学基金国防科技重点实验室基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...
选择条件：
  • 学科=电子电信x
共 条 记 录，以下是1-10
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究被引量：1
《电子与封装》2023年第12期14-19,共6页雷星辰 季伟伟 陈龙 韩森 
Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传...
关键词：Flash型FPGA March C+算法 BRAM 
一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计被引量：4
《电子与信息学报》2023年第9期3420-3429,共10页蔡志匡 余昊杰 杨航 王子轩 郭宇锋 
国家重点研发计划(2018YFB2202005);国家自然科学基金(61974073);江苏省研究生科研与实践创新计划项目(SJCX21_0272)。
存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好...
关键词：存储器内建自测试 MARCH算法 动态故障 故障覆盖率 
一种改进的SRAM故障内建自检测算法被引量：5
《湖南大学学报（自然科学版）》2019年第4期97-101,共5页曾健平 王振宇 袁甲 彭伟 曾云 
国家自然科学基金资助项目(61705065);湖南省自然科学基金资助项目(2017JJ3034);长沙市科技计划项目(kq1804001)~~
面向March C+算法故障覆盖率的问题,本文提出一种改进的March CS算法来完成存储器SRAM的内建自测试.通过增加原算法元素的读写操作来敏化存储单元的故障,检测原算法不能敏化的静态故障和动态故障,从而提高故障覆盖率.最后,通过对1 024*3...
关键词：MARCH CS算法 静态故障 动态故障 故障覆盖率 
基于March C+算法的RAM内建自测试设计
《辽宁大学学报（自然科学版）》2018年第2期125-128,共4页刘兴辉 孙守英 程宇 
辽宁省教育厅研究生教育教学改革项目(辽教函[2017]24号)
为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了...
关键词：PERL语言 MARCH C+算法 HSC32K1芯片 内建自测试 
通讯设备内存总线测试方法研究及验证
《计算机产品与流通》2017年第10期48-49,共2页邱桥春 刘连 
按照常规的方法,往设备内存某地址写入数值后再读出来判断,这种做法测不出所有的问题,且单一数据也不易覆盖全部测试内容。本文将针对通讯设备中RAM、地址线、数据线等方面对内存总线子系统进行具体测试方法的设计和实现,并给出实际测...
关键词：内存 RAM 总线测试 MARCH C算法 通讯设备 
英国曼臣MARCHED系列双18in超低频音箱MK218X
《电声技术》2014年第11期89-89,共1页
MARCHED系列适应于各种娱乐场所的应用，平滑的频率响应和精准的覆盖角度使得该系列的音色天然通透，在空间感和质感方面趋于完美。MARCHED系列在质量上严格把关，采用最新高科技精密加工而成，搭配精选扬声器单元，不断调试，以使产品...
关键词：超低频 音箱 英国 娱乐场所 扬声器单元 频率响应 精密加工 建筑风格 
基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统被引量：2
《电子器件》2014年第5期803-807,共5页王鹏 李振 邵伟 薛茜男 
国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合项目(U1333120);中央高校基本科研业务费项目(3122013P004);中央高校基本科研业务费项目(312013SY53);中国民航大学科研启动基金项目(2012QD26X)
为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的...
关键词：仿真测试 单粒子翻转 LabVIEW MARCH C-算法 SRAM 
基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究被引量：1
《单片机与嵌入式系统应用》2012年第1期8-11,共4页陈亚坤 
SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算...
关键词：SRAM自测试 故障模型 FPGA MARCH C-算法 
March算法在BIST电路设计中的作用机制
《大连交通大学学报》2011年第5期98-101,共4页张莹 赵纶 
基于March CE算法,设计了一种可嵌入式的具有内建自测试功能的电路;在电路和测试方案设计中依据March CE算法中理论公式,并以此为依据叙述了设计过程中的作用机制,给出BIST电路结构原理图和电路设计图,对所设计的电路进行了测试,验证了...
关键词：MARCH CE算法 BIST电路 作用机制 
基于March C+改进算法的MBIST设计被引量：3
《电子科技》2011年第10期67-70,共4页申志飞 梅春雷 易茂祥 闫涛 阳玉才 
安徽省教育厅自然科学重点基金资助项目(No.KJ2010A280)
针对SRAM内建自测试(MBIST),介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C+算法,在深入理解March C+算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验...
关键词：MBIST IC设计 MARCH C+ VERILOG HDL 
全选清除导出
共2页<12>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部