原子层淀积

作品数:26被引量:52H指数:4
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原子层淀积Si掺杂ZnO薄膜的光电性能研究
《淮北师范大学学报(自然科学版)》2022年第4期60-64,共5页张远 张永兴 张金锋 牟福生 
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室开放课题(2019KF005);安徽省级“六卓越、一拔尖”卓越人才培养创新项目(2019zyrc054);安徽省高等学校自然科学研究项目(KJ2020A0029);物理学(师范)专业卓越教师培养创新项目(2020zyrc143);力学教学示范课(2020SJJXSFK2147)。
文章对原子层淀积(ALD)Si掺杂ZnO(SZO)薄膜的结构、电学和光学性能进行研究.通过生长ZnO和SiO2叠层的方法得到不同硅(Si)掺杂浓度的SZO薄膜,XRD测量结果表明,SZO薄膜为多晶结构,AFM测量结果表明,掺杂后样品的表面粗糙度变小.随着Si掺杂...
关键词:Si掺杂 ZNO薄膜 原子层淀积 透光率 光致发光 
Micro-LED显示器量化生产关键技术被引量:2
《电子工业专用设备》2021年第3期29-34,共6页蔡克新 
为快速推动Micro-LED显示器产业化发展,结合Micro-LED微显示器的性能特点、制造工艺流程和产品应用优势,重点分析了基于硅/蓝宝石衬底的GaN外延生长技术、芯片侧壁原子层沉积技术、芯片转移和晶圆级键合等技术。通过显示产业材料、工艺...
关键词:新型平板显示 微缩化发光二极管 有机化合物化学气相沉积 原子层淀积 晶圆键合 
降低高k介质层微粒污染的工艺研究
《微电子学》2019年第6期878-882,共5页强毅博 明安杰 陈彦伯 何崇敏 王玮冰 
国家自然科学基金资助项目(61874137)
随着集成电路制造技术节点进一步缩减,高k介质层金属栅工艺得到广泛应用。该工艺中,减少高k介质层淀积的微粒污染对后续膜层的生长质量至关重要。采用原子层淀积法生长了高k的HfO2层。针对高k层表面容易引入微粒污染的问题,采取了改变H...
关键词:高k金属栅 原子层淀积 微粒污染 
光子探测器在芬兰HIP和克罗地亚RBI的研发制作(英文)
《湘潭大学学报(自然科学版)》2018年第4期115-120,共6页Brücken Erik Gadda Akiko Ott Jennifer Naaranoja Tiina Martikainen Laura Karadzhinova-Ferrer Aneliya Kalliokoski Matti Golovlova Maria Kirschenmann Stefanie Litichevskyi Vladyslav Petrine Ana Luukka Panja Harkonen Jaakko 
Various types of semiconductor detectors,detector physics and modeling
该文描述了碲化镉(CdTe)探测器,硅漂移探测器和外加一层转换闪烁体硅探测器(SiS)的设计与制作方法 .这些硅及CdTe芯片制作工艺及其连接方法是在芬兰的Micronova中心完成的.与硅工艺不同的是,CdTe工艺必须在低于150℃的温度下完成.我们...
关键词:硅探测器 碲化镉探测器 I-V、C-V 和TCT方法 原子层淀积(ALD)法 
基于原子层沉积的Al_2O_3薄膜微观形貌研究被引量:5
《稀有金属材料与工程》2015年第12期3078-3082,共5页王琛英 杨树明 李常胜 景蔚萱 林启敬 蒋庄德 张易军 
国家自然科学基金资助(51175418;91323303);新世纪优秀人才支持计划(93JXDW02000006);"111"引智计划(B12016);长江学者和创新团队发展计划(IRT1033);中央高校基本科研业务费专项资金(xjj20100063;2011jdgz09;2011jdhz23;xjj2011068)
研究利用原子层沉积获得的小于10 nm Al_2O_3薄膜表面形貌特点。采用该技术获得4和8 nm的Al_2O_3薄膜,利用原子力扫描电镜(AFM)和扫描电镜(SEM)对薄膜表面形貌进行测量,通过最小二乘法和多重分形研究薄膜表面形貌,分析得出利用原子层沉...
关键词:原子层淀积 AL2O3 多重分形 
阳极氧化铝的原子层淀积封孔研究
《材料保护》2013年第S1期24-26,共3页杨忙 计峰 李超波 夏洋 刘邦武 
制备了多孔阳极氧化铝,利用原子层淀积技术对其封孔,借助场发射扫描电镜(SEM)分析了样品的表面及剖面形貌,对样品进行染色处理,利用酸性点滴试验测试样品抗腐蚀性能。结果表明:阳极氧化处理形成大孔径约为16 nm的多孔膜,多孔膜在循环50...
关键词:阳极氧化铝 原子层淀积封孔 氧化铝 
前驱体和退火温度对Nd_2O_3薄膜组分影响的定量研究
《物理学报》2013年第3期367-373,共7页张旭杰 刘红侠 范小娇 樊继斌 
国家自然科学基金(批准号:61076097;60936005);教育部科技创新工程重大项目培育资金(批准号:708083);中央高校基本科研业务费专项资金(批准号:20110203110012)资助~~
采用Nd(thd)3和O3作为反应前驱体,利用先进的原子层淀积方法在P型硅(100)衬底上制备了超薄Nd2O3介质膜,并在N2气氛下进行了退火处理.采用X射线光电子能谱仪对薄膜样品组分进行分析.研究结果表明,淀积过程中将前驱体温度从175℃提高到18...
关键词:原子层淀积 ND2O3 前驱体温度 X射线光电子能谱仪 
原子层淀积技术应用于太阳电池的研究进展被引量:1
《半导体光电》2012年第3期307-313,360,共8页谢章熠 谢立恒 耿阳 孙清清 周鹏 卢红亮 张卫 
国家自然科学基金项目(51102048);复旦大学自主创新科研项目;复旦大学人才引进启动资金项目;ASIC与系统国家重点实验室面上项目(11MS017)
原子层淀积(ALD)是一种先进的纳米级薄膜生长技术,在微电子和光电子领域有着广泛的应用前景,尤其在提高太阳电池的光电转换效率方面正发挥越来越大的作用,很可能成为下一代太阳电池工艺中的重要方法。文章综述了近年来ALD技术在太阳电...
关键词:太阳电池 原子层淀积 薄膜生长 
ALD淀积温度对HfO_2高k栅介质材料特性的影响被引量:3
《西安电子科技大学学报》2012年第2期164-167,共4页匡潜玮 刘红侠 樊继斌 马飞 张言雷 
国家自然科学基金资助项目(60976068);教育部科技创新工程重大项目培育资金资助项目(708083);教育部博士点基金资助项目(200807010010)
采用原子层淀积方法,在不同生长温度下制备了HfO2高k栅介质薄膜,研究了生长温度对HfO2薄膜特性的影响.实验结果表明,HfO2薄膜的生长速率受生长温度的影响很大,在高温区将随着温度的上升而增大,而在低温区将随着温度的降低而增大.通过分...
关键词:高K栅介质 二氧化铪 原子层淀积 生长温度 氧化层缺陷 
快速热退火对原子层淀积铂纳米颗粒的影响
《材料研究学报》2012年第3期255-260,共6页陈红兵 朱宝 陈笋 孙清清 丁士进 张卫 
国家自然科学基金61076076;02;国家科技重大专项2009ZX02302-002;新世纪优秀人才支持计划NCET-08-0127资助项目~~
以(MeCp)Pt(CH3)3和O_2为反应源,采用原子层淀积(ALD)技术在A1_2O_3衬底上制备Pt纳米颗粒,研究了在氮气中快速热退火对Pt纳米颗粒的特性的影响。结果表明,随着退火温度从700℃升高到900℃,Pt纳米颗粒尺寸逐渐增大,颗粒之间分离愈加清晰...
关键词:金属材料 Pt纳米颗粒 原子层淀积 快速热退火 
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