MESFET器件

作品数:10被引量:2H指数:1
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相关作者:付生辉廖小平宁瑾张玉明张义门更多>>
相关机构:西安电子科技大学河北工业大学中国电子科技集团公司东南大学更多>>
相关期刊:《Journal of Semiconductors》《上海微电子技术和应用》《西北大学学报(自然科学版)》《电子设计工程》更多>>
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Analytical Model for GaAs MESFET with High Pinchoff Voltage
《材料科学与工程(中英文A版)》2013年第12期853-858,共6页Chahrazed Kaddour Cherifa Azizi Saade Edine Khemissi Mourad Zaabat Yasemina Saidi 
关键词:MESFET器件 夹断电压 GAAS 金属半导体场效应晶体管 解析模型 移动特性 电子电路 静态模型 
科锐推出S波段GaN器件,实现雷达应用的效率最大化
《电子设计工程》2012年第15期105-105,共1页
科锐公司宣布推出可适用于军用和商用S渡段雷达中的高效GaNHEMT晶体管。新型S波段GaNHEMT晶体管的额定功率为60W,频率为3.1—3.5GHz之间,与传统Si或GaAsMESFET器件相比,能够提供优越的漏极效率(接近70%)。同时,高效率和高功率...
关键词:MESFET器件 雷达应用 S波段 GaN 最大化 高功率密度 额定功率 GaAs 
4H-SiC MESFET器件的制备与性能
《Journal of Semiconductors》2007年第z1期385-387,共3页宁瑾 张杨 刘忠立 
国家自然科学基金资助项目(批准号:60406010)
在半绝缘4H-SiC衬底上成功制备出MESFET器件,并完成直流特性测试和交流小信号特性测试工作.共制备出3种结构尺寸的MESFET器件,其栅长栅宽分别为0.5μm/80μm,0.7μm/80μm和2μm/2mm,其中0.5μm/80/μm的MESFET器件的漏极电流密度最高,...
关键词:4H-SIC MESFET S参数 直流测试 
半绝缘GaAs衬底中AB微缺陷对MESFET器件性能的影响被引量:1
《Journal of Semiconductors》2005年第1期72-77,共6页徐岳生 付生辉 刘彩池 王海云 魏欣 郝景臣 
国家自然科学基金 (批准号 :60 2 760 0 9);中国人民解放军总装备部预研资金 (批准号 :0 0JS0 2.2.1QT45 0 1);河北省自然科学基金 (批准号 :5 990 3 3 )资助项目~~
研究了LEC法生长SI GaAs衬底上的AB微缺陷对相应的MESFET器件性能 (跨导、饱和漏电流、夹断电压 )的影响 .用AB腐蚀液显示AB微缺陷 (AB EPD :10 3 ~ 10 4cm-2 量级 ) ,用KOH腐蚀液显示位错 (EPD :10 4cm-2 量级 ) ,发现衬底上的AB微缺...
关键词:LEC SI-GAAS 位错 AB-EPD 跨导 饱和漏电流 夹断电压 
多台阶介质槽隔离的SiCOI MESFET器件
《Journal of Semiconductors》2004年第1期73-76,共4页龚欣 张进城 郝跃 
国家重点基础研究发展规划资助项目 ( No.2 0 0 2 CB3 1190 4)~~
用二维器件仿真软件 MEDICI对 Si COI(Si C on insulator) MESFET的击穿特性进行了研究 ,提出了一种新的 Si COI MESFET器件介质槽隔离结构 ,即多台阶介质槽隔离结构 .研究结果表明 ,与单介质槽隔离 Si COI MES-FET相比 ,多台阶结构在...
关键词:SICOI MESFET 多台阶介质槽隔离 击穿电压 
SiC-MESFET器件的夹断电压
《西北大学学报(自然科学版)》2003年第1期26-28,共3页王守国 张义门 张玉明 张志勇 阎军锋 
国防预研基金资助项目(No.8.1.7.3)
考虑空间电荷区杂质的非完全离化、SiC表面的界面态和反向漏电流等因素的影响,给出了较为精确的计算SiC-MESFET器件夹断电压的方法,计算的结果和实验值符合较好。
关键词:SiC—MESFET器件 夹断电压 碳化硅 界面态 反向漏电流 非完全离化 
GaAs/InP异质材料及MESFET器件研究
《厦门大学学报(自然科学版)》2002年第6期759-763,共5页陈小红 陈松岩 张玉清 林爱清 陈丽容 邓彩玲 
国家自然科学基金 (6 0 0 0 6 0 0 4);福建省自然科学基金 (A0 110 0 0 6 )资助项目
用低压金属有机气相外延 (LP MOCVD)在InP衬底上生长出较高质量的GaAs材料 ,并对材料进行Raman、光致发光 (PL)谱的测试分析 ,结果表明在GaAs InP外延层中存在伸张应力致使Raman的LO模式的频率红移 ;PL谱峰较强 ,16K下测到GaAs的特征激...
关键词:MESFET器件 GaAs/InP异质材料 光致发光谱 RAMAN谱 金属-半导体场效应晶体管 Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料 
半绝缘砷化镓及其MESFET器件光敏特性研究
《半导体情报》2000年第4期41-43,共3页郭小兵 周智慧 胡恺生 张绵 
用波长范围为 70 0~ 3 5 0 0 nm的光电流测试系统研究了 SI-Ga As衬底及其 MESFET器件中的深能级。结果显示在 SI-Ga As衬底及其 MESFET器件中存在着相似的深能级 ,衬底的深能级影响着器件的光敏等性能。还讨论了如何减少器件中光敏现...
关键词:MESFET器件 光敏特性 半绝缘 砷化镓 
砷化镓MESFET器件的电路模拟被引量:1
《功能材料与器件学报》1996年第2期102-108,共7页杨国洪 范恒 王碧娟 姚林声 雷少莉 夏冠群 
中国科学院"八五"重大课题
鉴于器件模拟参数在电路模拟中的重要性,本文选择了较为理想的模型参数提取方法─统计试验法,并从理论上解决了该方法在迭代求解过程中存在的隐函数问题,以及解的唯一性问题。同时提出了加速求解的方法,在此基础上设计的软件可获得...
关键词:电路 模拟 砷化镓 MESFET器件 
砷化镓MESFET器件的模拟
《上海微电子技术和应用》1995年第3期24-28,共5页杨国洪 王碧娟 
对GaAs MESFET的工艺作了具体分析,认为模拟 的关键是要正确描述注入原子的激活率,适移率,载原子分布及再分布,针对这几个问题,以实验结果为依据对PISCESI-A模拟程序作了改进,这个改进证明是成功的。
关键词:砷化镓 半导体器件 MESFET器件 模拟 
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